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Pub. No.:    WO/2017/183086    International Application No.:    PCT/JP2016/062287
Publication Date: 26.10.2017 International Filing Date: 18.04.2016
G01N 27/62 (2006.01), H01J 49/10 (2006.01)
Applicants: SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511 (JP)
Inventors: HARADA, Takahiro; (JP)
Agent: KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE; Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091 (JP)
Priority Data:
(JA) 質量分析装置
Abstract: front page image
(EN)An image formation optical system (15) having a small focal distance and an aperture member (14) having an opening having a predetermined shape are disposed in a predetermined position between a laser irradiation part (13) and a sample (100), and a substantially square-shaped laser light irradiation region is formed by forming a reduced image of the opening shape on the sample (100). A configuration is adopted whereby the aperture member (14) and the image formation optical system (15) can each be moved in the optical axis direction, and the size of the substantially square-shaped laser light irradiation region on the sample (100) is variable. The size of the laser light irradiation region is matched to the size of a unit region of interest in an analysis object region on the sample (100), and a step width of scanning for moving the laser light irradiation position is also matched to the size of the unit region of interest, whereby the sample (100) can be evenly scanned and mass spectrometry data can be collected without overlapping of laser irradiation sites. The sample can thereby be effectively utilized, mass detection omission is eliminated, and the uniformity of signal strength of a uniformly distributed mass is also increased.
(FR)Selon l'invention, un système optique de formation d'image (15) ayant une faible distance focale et un élément d'ouverture (14) ayant une ouverture ayant une forme prédéterminée sont disposés dans une position prédéterminée entre une partie d'irradiation par laser (13) et un échantillon (100), et une région d'irradiation par lumière laser de forme sensiblement carrée est formée par formation d'une image réduite de la forme d'ouverture sur l'échantillon (100). Une configuration est adoptée par laquelle l'élément d'ouverture (14) et le système optique de formation d'image (15) peuvent chacun être déplacés dans la direction de l'axe optique, et la taille de la région d'irradiation par lumière laser de forme sensiblement carrée sur l'échantillon (100) est variable. La taille de la région d'irradiation par lumière laser est adaptée à la taille d'une région unitaire d'intérêt dans une région d'objet d'analyse sur l'échantillon (100), et une largeur de pas de balayage pour déplacer la position d'irradiation par lumière laser est également mise en correspondance avec la taille de la région unitaire d'intérêt, ce par quoi l'échantillon (100) peut être balayé uniformément et des données de spectrométrie de masse peuvent être collectées sans chevauchement de sites d'irradiation par laser. L'échantillon peut ainsi être efficacement utilisé, une omission de détection de masse est éliminée, et l'uniformité de l'intensité de signal d'une masse répartie uniformément est également augmentée.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)