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1. (WO2017177517) X-RAY FLUORESCENCE LOGGING PROBE FOR DEEP WELL DETECTION
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Pub. No.:    WO/2017/177517    International Application No.:    PCT/CN2016/083654
Publication Date: 19.10.2017 International Filing Date: 27.05.2016
IPC:
G01V 5/12 (2006.01), G01N 23/223 (2006.01)
Applicants: INSTITUTE OF ACOUSTICS, CHINESE ACADEMY OF SCIENCES [CN/CN]; 21 North 4th Ring Road, Haidian District Beijing 100190 (CN).
CHENGDU UNIVERSITY OF TECHNOLOGY [CN/CN]; No.1 Erxianqiao Dongsanlu Chenghua District, Chengdu, Sichuan 610059 (CN)
Inventors: WANG, Xiuming; (CN).
GE, Liangquan; (CN).
XU, Delong; (CN).
ZHANG, Qingxian; (CN).
CHEN, Dehua; (CN).
ZENG, Guoqiang; (CN).
CONG, Jiansheng; (CN).
YANG, Qiang; (CN)
Agent: FASTA INTELLECTUAL PROPERTY LIMITED; Room202, Building 1, No.13, Bei Er Tiao Zhongguancun Haidian District Beijing 100190 (CN)
Priority Data:
201610220817.9 11.04.2016 CN
Title (EN) X-RAY FLUORESCENCE LOGGING PROBE FOR DEEP WELL DETECTION
(FR) SONDE DE DIAGRAPHIE À FLUORESCENCE X POUR DÉTECTION DE PUITS PROFOND
(ZH) 一种用于深井探测的X射线荧光测井探管
Abstract: front page image
(EN)An X-ray fluorescence logging probe for deep well detection, comprising: an excitation source (4), a detector, a nuclear pulse signal processing circuit, a power circuit, a communication circuit, and a cooling means which are provided in a tube body (1). A detecting window (2) is provided on the tube body (1); the cooling means is used for sealing the detector in the tube body (1) and is driven by the power circuit to cool the detector. The probe can realize X-ray fluorescence logging in a high-temperature and high-pressure environment by means of a simple electric refrigerating structure, thereby directly measuring element content of a well wall, so that the X-ray fluorescence logging probe is applicable to field geological exploration. Moreover, the instrument structure of the probe is simple, and by integrating a cooling means in the tube body, less space is occupied by the probe, so that the probe can be used in a small-diameter well and can meet the requirement for mineral exploring.
(FR)La présente invention concerne une sonde de diagraphie de fluorescence X pour détection de puits profond, comprenant : une source d'excitation (4), un détecteur, un circuit de traitement de signal d'impulsion nucléaire, un circuit d'alimentation, un circuit de communication et un moyen de refroidissement qui sont disposés dans un corps de tube (1). Une fenêtre de détection (2) est disposée sur le corps de tube (1); le moyen de refroidissement est utilisé pour sceller le détecteur dans le corps de tube (1) et est entraîné par le circuit d'alimentation pour refroidir le détecteur. La sonde peut réaliser une diagraphie par fluorescence X dans un environnement à haute température et à haute pression au moyen d'une structure de réfrigération électrique simple, de façon à mesurer directement la teneur en éléments d'une paroi de puits, de sorte que la sonde de diagraphie à fluorescence X soit applicable à une exploration géologique de terrain. De plus, la structure d'instrument de la sonde est simple, et en intégrant un moyen de refroidissement dans le corps de tube, moins d'espace est occupé par la sonde, de sorte que la sonde puisse être utilisée dans un puits de faible diamètre et peut satisfaire à l'exigence d'exploration minérale.
(ZH)一种用于深井探测的X射线荧光测井探管,包括:设置于管体(1)内的激发源(4)、探测器、核脉冲信号处理电路、电源电路、通讯电路和冷却装置,所述的管体(1)上开设有探测窗口(2);所述的冷却装置将探测器密封于管体(1)内,并通过电源电路驱动其冷却探测器。该探管通过采用简单的电制冷结构,使其能够在高温、高压环境下实现X射线荧光测井,直接测量井壁元素含量,从而适合应用在野外的地质勘查中;且该探管所实现的仪器结构简单,通过将冷却装置集成于管体内部,降低了探管的空间,使其能够在小口径测井中使用,满足矿产勘查的需求。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)