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1. (WO2017176401) SHAFT GROUND MONITORING WITH DIAGNOSTIC WAVEFORM ANALYSIS
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Pub. No.:    WO/2017/176401    International Application No.:    PCT/US2017/020872
Publication Date: 12.10.2017 International Filing Date: 06.03.2017
IPC:
G01R 31/34 (2006.01), H02P 29/024 (2016.01), H02K 11/40 (2016.01)
Applicants: SIEMENS ENERGY, INC. [US/US]; 4400 Alafaya Trail Orlando, Florida 32826-2399 (US)
Inventors: THOMPSON, Edward David; (US)
Agent: FIL, Michele S.; (US)
Priority Data:
62/318,731 05.04.2016 US
Title (EN) SHAFT GROUND MONITORING WITH DIAGNOSTIC WAVEFORM ANALYSIS
(FR) SURVEILLANCE DE MASSE D'ARBRE AVEC ANALYSE DE FORME D'ONDE DE DIAGNOSTIC
Abstract: front page image
(EN)A system (16A) that monitors a grounding voltage or current signal (24, 26) of a rotating shaft (18), and provides expert system logic (30) that compares (48) prior learned waveforms and models of baseline, fault, and degradation waveforms (42) to operational waveforms (44) of the signal to determine and predict faults and degradation events (50). Self-learning logic analyzes (52) the operational waveforms to look for changes, and finds or predicts fault and degradation events in relation to archived characteristics of earlier waveforms. It then adds (54) characteristics of predictive waveforms to the database of model waveforms, and updates (56) rules and thresholds in the expert logic based on the found predictors.
(FR)L'invention concerne un système (16A) qui surveille un signal de tension ou de courant de mise à la masse (24, 26) d'un arbre rotatif (18), et fournit une logique de système expert (30) qui compare (48) des formes d'onde apprises précédentes et des modèles de formes d'onde de ligne de base, de défaut et de dégradation (42) avec des formes d'onde opérationnelles (44) du signal pour déterminer et prédire des défauts et des événements de dégradation (50). Une logique d'auto-apprentissage analyse (52) les formes d'onde opérationnelles pour rechercher des changements, et trouve ou prédit des événements de défaut et de dégradation en relation avec des caractéristiques archivées de formes d'onde antérieures. Il ajoute ensuite (54) des caractéristiques de formes d'onde prédictives à la base de données de formes d'onde de modèle, et met à jour (56) des règles et des seuils dans la logique d'expert sur la base des prédicteurs trouvés.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)