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1. (WO2017175841) THERMOCYCLING TEST DEVICE AND CHIP HOLDER
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Pub. No.:    WO/2017/175841    International Application No.:    PCT/JP2017/014418
Publication Date: 12.10.2017 International Filing Date: 06.04.2017
IPC:
C12M 1/00 (2006.01), G01N 37/00 (2006.01), C12Q 1/68 (2006.01)
Applicants: METABOSCREEN CO., LTD. [JP/JP]; Terakubo 34-1-412, Naka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2310855 (JP)
Inventors: SEKIZAWA Ryuichi; (JP).
ASO Ryoko; (JP).
MITSUTAKE Hiroshi; (JP)
Agent: ABE Shinichi; (JP).
SHIMIZU Yoshihiro; (JP).
TSUJITA Takashi; (JP).
OTA Takafumi; (JP)
Priority Data:
2016-077655 07.04.2016 JP
Title (EN) THERMOCYCLING TEST DEVICE AND CHIP HOLDER
(FR) DISPOSITIF DE TEST DE THERMOCYCLAGE ET SUPPORT DE PUCE
(JA) サーモサイクリング検査装置及びチップホルダー
Abstract: front page image
(EN)Provided are: a thermocycling test device which is provided with a holder accommodation space 10 for accommodating a chip holder 50, a thermocycling part 20 for heating and cooling a test chip 60, and a detector 30 for capturing an image of the test chip 60, wherein the holder accommodation space 10 is formed so that the thermocycling part 20 is disposed on one side of the holder accommodation space 10, the detector 30 is disposed on the other side of the holder accommodation space 10, and the optical axis of the detector 30 coincides with a sample inlet 62 when the thermocycling part 20 performs heating or cooling or when the detector 30 captures the image, whereby a polymerase chain reaction can be performed, and a test can be performed using the test chip in which the polymerase chain reaction is performed; and the test chip.
(FR)La présente invention décrit : un dispositif de test de thermocyclage qui est prévu avec un espace d’accueil de support (10) pour accueillir un support de puce (50), une partie de thermocyclage (20) pour le chauffage et le refroidissement d’une puce de test (60), et un détecteur (30) destiné à la capture d’une image de la puce de test (60), l’espace d’accueil de support (10) étant formé de sorte que la partie de thermocyclage (20) soit disposée sur un côté de l’espace d’accueil de support (10), le détecteur (30) étant disposé sur l’autre côté de l’espace d’accueil de support (10), et l’axe optique du détecteur (30) coïncidant avec un orifice d’entrée d’échantillon (62) lorsque la partie de thermocyclage (20) exécute le chauffage ou le refroidissement ou lorsque le détecteur (30) capture l’image, moyennant quoi une réaction en chaîne de la polymérase peut être exécutée, et un test peut être exécuté en utilisant la puce de test dans laquelle la réaction en chaîne de la polymérase est exécutée ; et la puce de test.
(JA)チップホルダー50を収容するホルダー収容空間10と、検査チップ60を加熱し冷却するサーモサイクリング部20と、検査チップ60を撮影する検出器30とを備え、サーモサイクリング部20による加熱冷却時又は検出器30での撮影時には、ホルダー収容空間10の一方にサーモサイクリング部20が配置され、ホルダー収容空間10の他方に検出器30が配置され、検出器30の光軸と試料導入口62とが一致するように、ホルダー収容空間10を形成したことで、ポリメラーゼ連鎖反応を行わせることができ、ポリメラーゼ連鎖反応を行わせた検査チップを用いて検査を行えるサーモサイクリング検査装置及び検査チップを提供する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)