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1. (WO2017175341) MEASUREMENT METHOD, MEASUREMENT DEVICE, MEASUREMENT PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM HAVING MEASUREMENT PROGRAM RECORDED THEREON
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Pub. No.: WO/2017/175341 International Application No.: PCT/JP2016/061324
Publication Date: 12.10.2017 International Filing Date: 06.04.2016
IPC:
G01B 11/25 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
B
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11
Measuring arrangements characterised by the use of optical means
24
for measuring contours or curvatures
25
by projecting a pattern, e.g. moiré fringes, on the object
Applicants:
4Dセンサー株式会社 4D SENSOR INC. [JP/JP]; 和歌山県和歌山市中649-3番地 エスティワールドレジデンス111号 111, S.T. World Residence, 649-3, Naka, Wakayama-shi, Wakayama 6408451, JP
Inventors:
森本 吉春 MORIMOTO, Yoshiharu; JP
楠 芳之 KUSUNOKI, Yoshiyuki; JP
植木 将貴 UEKI, Masaki; JP
柾谷 明大 MASAYA, Akihiro; JP
高木 哲史 TAKAGI, Akifumi; JP
Agent:
あいわ特許業務法人 AIWA INTERNATIONAL PATENT AGENCY; 東京都中央区築地一丁目12番22号 コンワビル4階 4F., Konwa Bldg., 12-22, Tsukiji 1-chome, Chuo-ku, Tokyo 1040045, JP
Priority Data:
Title (EN) MEASUREMENT METHOD, MEASUREMENT DEVICE, MEASUREMENT PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM HAVING MEASUREMENT PROGRAM RECORDED THEREON
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE, DISPOSITIF DE MESURE, PROGRAMME DE MESURE, ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT LISIBLE PAR ORDINATEUR SUR LEQUEL EST ENREGISTRÉ LE PROGRAMME DE MESURE
(JA) 計測方法、計測装置、計測プログラム及び計測プログラムを記録した、コンピュータ読み取り可能な記録媒体
Abstract:
(EN) Provided is a measurement method in which: an image is captured of a lattice that is projected onto a reference surface; an optical system is adjusted such that the phase, which is 2mπ(m is an integer), of the projected lattice inside a rectangle composed of Mx pixels in an x direction and Ny pixels in a y direction (Mx and Ny are integers of 2 or higher) of the captured image of the lattice projected on the reference surface is equally divided among Mx × Ny (= M); an image is captured of a lattice pattern that is projected onto an object placed on the reference surface; luminance values are obtained for 2mπ equally divided among the Mx × Ny pixels in a rectangular region of Mx × Ny pixels composed of Mx pixels arrayed in the x direction and Ny pixels arrayed in the y direction of the captured image of the lattice pattern projected onto the object; phases are obtained using the luminance values; an image is captured of the lattice pattern projected on the object placed on the reference surface; and positions on a surface of the object are obtained on the basis of phases that are shifted for each pixel of the captured image of the lattice pattern projected on the object.
(FR) La présente invention concerne un procédé de mesure dans lequel : une image est capturée d'un réseau qui est projeté sur une surface de référence ; un système optique est ajusté de telle sorte que la phase, qui est 2 mπ (m est un nombre entier), du réseau projeté à l'intérieur d'un rectangle composé de pixels Mx dans une direction x et de pixels Ny dans une direction y (Mx et Ny étant des nombres entiers de 2 ou plus) de l'image capturée du réseau projeté sur la surface de référence soit divisée de manière égale entre Mx × Ny (= m) ; une image est capturée d'un motif de réseau qui est projeté sur un objet placé sur la surface de référence ; des valeurs de luminance sont obtenues pour 2 mπ uniformément divisées parmi les pixels Mx × Ny dans une région rectangulaire de pixels Mx × Ny composés de pixels Mx disposés en réseau dans la direction x et de pixels Ny disposés en réseau dans la direction y de l'image capturée du motif de réseau projeté sur l'objet ; des phases sont obtenues à l'aide des valeurs de luminance ; une image est capturée du motif de réseau projeté sur l'objet placé sur la surface de référence ; et des positions sur une surface de l'objet sont obtenues en fonction de phases qui sont décalées pour chaque pixel de l'image capturée du motif de réseau projeté sur l'objet.
(JA)  基準面に投影された格子を撮像し、前記基準面に投影された格子を撮像した画像のx方向Mx画素、y方向Ny画素からなる長方形内(Mx、Nyは2以上の整数)において、投影されている格子の位相が2mπ(mは整数)をMx×Ny(=M)等分されているように光学系を調節し、前記基準面に載置された物体に投影された格子模様を撮像し、前記物体に投影された格子模様を撮像した画像の、x方向Mx、y方向Ny画素からなるMx×Ny画素の長方形領域において、2mπをMx×Ny等分した輝度値を求め、前記輝度値を用いて位相を求め、前記基準面に載置された物体に投影された格子模様を撮像し、前記物体に投影された格子模様を撮像した画像の画素毎にずらして前記位相を求め、該位相に基づいて物体面の位置を求める、計測方法。
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Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)