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1. (WO2017174795) MICROSCOPE AND METHOD FOR IMAGING A SAMPLE
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Pub. No.:    WO/2017/174795    International Application No.:    PCT/EP2017/058427
Publication Date: 12.10.2017 International Filing Date: 07.04.2017
IPC:
G02B 21/00 (2006.01), G02B 21/36 (2006.01)
Applicants: LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH [DE/DE]; Ernst-Leitz-Straße 17-37 35578 Wetzlar (DE)
Inventors: KNEBEL, Werner; (DE).
FAHRBACH, Florian; (DE)
Agent: BRADL, Joachim; (DE)
Priority Data:
93021 08.04.2016 LU
Title (DE) MIKROSKOP UND VERFAHREN ZUR ABBILDUNG EINER PROBE
(EN) MICROSCOPE AND METHOD FOR IMAGING A SAMPLE
(FR) MICROSCOPE ET PROCÉDÉ DE REPRODUCTION D'UN ÉCHANTILLON
Abstract: front page image
(DE)Beschrieben ist ein Mikroskop (50) zum Abbilden einer Probe (30), umfassend eine Beleuchtungseinheit (12) zum Aussenden von Beleuchtungslicht auf die Probe (30), einen Detektor (71) zum Erfassen von Detektionslicht, das aus der Probe (30) stammt, eine Optik zum Fokussieren des von der Beleuchtungseinheit (12) ausgesendeten Beleuchtungslichtes in die Probe (30) und zum Fokussieren des aus der Probe (30) stammenden Detektionslichtes auf den Detektor (71), und eine Scaneinheit (20) zum Scannen der Probe (30) mit dem Beleuchtungslicht. Die Beleuchtungseinheit (12) ist ausgebildet, das Beleuchtungslicht in Form von separaten Beleuchtungslichtbündeln (52, 54, 56) derart auf die Scaneinheit (20) auszusenden, dass die Beleuchtungslichtbündel (52, 54, 56) beim Scannen der Probe (30) gleichzeitig auf räumlich voneinander getrennte, streifenförmige Probenbereiche (A, B, C) fokussiert werden. Der Detektor (71) ist ausgebildet, das Detektionslicht in Form von separaten, aus den räumlich voneinander getrennten, streifenförmigen Probenbereichen (A, B, C) stammenden Detektionslichtbündeln (58, 60, 62) gleichzeitig und räumlich voneinander getrennt zu erfassen.
(EN)The invention relates to a microscope (50) for imaging a sample (30), comprising an illumination unit (12) for emitting illumination light onto the sample (30), a detector (71) for detecting detection light from the sample (30), an optical unit for focusing the illumination light emitted by the illumination unit (12) into the sample (30) and for focusing the detection light from the sample (30) on the detector (71), and a scanning unit (20) for scanning the sample (30) with the illumination light. The illumination unit (12) is designed to emit illumination light in the form of separate illumination light bundles (52, 54, 56) on the scanning unit (20) in such a manner that the illumination light bundles (52, 54, 56) are focused simultaneously on spatially separate, strip-shaped sample regions (A, B, C) during the scanning of the sample (30). The detector (71) is designed to detect the detection light simultaneously and in a spatially separate manner in the form of separate detection light bundles (58, 60, 62) which stem from the spatially separate, strip-shaped sample regions (A, B, C).
(FR)La présente invention concerne un microscope (50) permettant de reproduire un échantillon (30). Ledit microscope comprend : une unité d'éclairage (12) pour émettre une lumière d'éclairage sur l'échantillon (30); un détecteur (71) pour détecter une lumière de détection qui provient de l'échantillon (30); une optique pour focaliser la lumière d'éclairage émise par l'unité d'éclairage (12) dans l'échantillon (30) et pour focaliser la lumière de détection provenant de l'échantillon (30) sur le détecteur (71); et une unité de balayage (20) pour balayer l'échantillon (30) avec la lumière d'éclairage. L'unité d'éclairage (12) est formée pour émettre la lumière d'éclairage sous forme de faisceaux de lumière d'éclairage séparés (52, 54, 56) sur l'unité de balayage (20) de manière telle que, lors du balayage de l'échantillon (30), les faisceaux de lumière d'éclairage (52, 54, 56) sont focalisés simultanément sur des zones (A, B, C) de l'échantillon en forme de bande et séparées dans l'espace les unes des autres. Le détecteur (71) est formé pour détecter la lumière de détection sous forme de faisceaux de lumière d'éclairage (58, 60, 62) provenant des zones (A, B, C) de l'échantillon distinctes, en forme de bande et séparées dans l'espace les unes des autres d'une manière simultanée et séparée les uns des autres dans l'espace.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)