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1. (WO2017174792) METHOD AND MICROSCOPE FOR EXAMINING A SAMPLE
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Pub. No.:    WO/2017/174792    International Application No.:    PCT/EP2017/058420
Publication Date: 12.10.2017 International Filing Date: 07.04.2017
IPC:
G02B 21/36 (2006.01)
Applicants: LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH [DE/DE]; Ernst-Leitz-Straße 17-37 35578 Wetzlar (DE)
Inventors: KNEBEL, Werner; (DE).
FAHRBACH, Florian; (DE)
Agent: BRADL, Joachim; (DE)
Priority Data:
93022 08.04.2016 LU
Title (DE) VERFAHREN UND MIKROSKOP ZUM UNTERSUCHEN EINER PROBE
(EN) METHOD AND MICROSCOPE FOR EXAMINING A SAMPLE
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D’ANALYSE D’UN ÉCHANTILLON
Abstract: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Untersuchen einer Probe. Das Verfahren zeichnet sich dadurch aus, dass die Probe gleichzeitig in mehreren, voneinander verschiedenen Probenebenen jeweils entlang einer Beleuchtungslinie mit jeweils einem Beleuchtungslichtbündel beleuchtet wird und wobei jeder entlang einer Beleuchtungslinie beleuchtete Probenbereich jeweils mit einer eigenen Detektions-PSF abgetastet und das von den beleuchteten Probenbereichen ausgehende Detektionslicht gleichzeitig und voneinander räumlich separat detektiert wird. Die Erfindung betrifft außerdem ein Mikroskop, insbesondere zum Ausführen eines solchen Verfahrens.
(EN)The invention relates to a method for examining a sample. The method is distinguished by the fact that the sample is illuminated with an illumination light beam in each case simultaneously in a plurality of mutually different sample planes in each case along an illumination line, and wherein each sample region illuminated along an illumination line is scanned in each case with a dedicated detection PSF and the detection light emanating from the illuminated sample regions is detected simultaneously and spatially separately from one another. The invention additionally relates to a microscope, in particular for performing such a method.
(FR)L'invention concerne un procédé d’analyse d’un échantillon. Le procédé est caractérisé en ce que l’échantillon est éclairé simultanément dans plusieurs plans d’échantillon différents les uns des autres, respectivement le long d’une ligne d’éclairage respectivement par un faisceau lumineux d’éclairage ; et chaque zone d’échantillon éclairée le long d’une ligne d’éclairage est respectivement balayée par une fonction d’étalement du point (PSF) de détection propre ; et la lumière de détection émanant des zones d’échantillon éclairées est détectée simultanément et spatialement séparément. L'invention concerne également un microscope, notamment pour la mise en oeuvre d’un tel procédé.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)