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1. (WO2017171783) SUBTERRANEAN FORMATION FAULT PREDICTION SYSTEM
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Pub. No.:    WO/2017/171783    International Application No.:    PCT/US2016/025197
Publication Date: 05.10.2017 International Filing Date: 31.03.2016
IPC:
G01V 1/48 (2006.01), G01V 1/28 (2006.01)
Applicants: LANDMARK GRAPHICS CORPORATION [US/US]; 3000 N. Sam Houston Parkway E. Houston, TX 77032-3219 (US)
Inventors: LOMASK, Jesse Mathias; (US).
YANG, Ze; (US)
Agent: RUSSELL, Dean W.; (US)
Priority Data:
Title (EN) SUBTERRANEAN FORMATION FAULT PREDICTION SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE PRÉDICTION DE DÉFAUT DE FORMATION SOUTERRAINE
Abstract: front page image
(EN)Systems and methods are provided for predicting a location of a fault in an area of interest of a subterranean formation by automatically determining a minimum-energy path between fault points received from a user and positioned on a seismic image of the area of interest. The seismic image of the area of interest may include fault indicators corresponding to potential faults. In some aspects, the minimum-energy path may be determined by tracing a path from one of the two fault points to the other fault points using segments of the fault indicators identified as requiring the least amount of energy to traverse a path between the selected fault points.
(FR)L’invention concerne des systèmes et des procédés servant à prédire un emplacement d’un défaut dans une zone intéressante d’une formation souterraine par une détermination automatique d’un trajet d’énergie minimale entre des points de défaut reçus d’un utilisateur et positionnés sur une image sismique de la zone intéressante. L’image sismique de la zone intéressante peut comprendre des indicateurs de défaut correspondant à des défauts potentiels. Dans certains aspects, il est possible de déterminer le trajet d’énergie minimale en traçant un trajet entre l’un des deux points de défaut et les autres points de défaut, en utilisant des segments des indicateurs de défaut pour lesquels il a été déterminé qu’ils nécessitent la quantité d’énergie minimale pour parcourir un trajet entre les points de défaut sélectionnés.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)