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Pub. No.:    WO/2017/169444    International Application No.:    PCT/JP2017/007529
Publication Date: 05.10.2017 International Filing Date: 27.02.2017
G01N 27/02 (2006.01), G01N 21/359 (2014.01)
Applicants: MITSUI ZOSEN ENVIRONMENT ENGINEERING CORPORATION [JP/JP]; 5-6-4, Tsukiji, Chuo-ku, Tokyo 1040045 (JP).
KAGOSHIMA UNIVERSITY [JP/JP]; 21-24, Korimoto 1-chome, Kagoshima-shi, Kagoshima 8908580 (JP)
Inventors: KOHARA Syotaro; (JP).
KAMITANI Yoshinori; (JP).
SHINOMIYA Tomoyuki; (JP)
Agent: MARUYAMA Eiichi; (JP)
Priority Data:
2016-068919 30.03.2016 JP
2016-068918 30.03.2016 JP
(JA) 溶液分析システム
Abstract: front page image
(EN)This invention addresses the problem of providing a solution analysis system with which analysis can be implemented simply and quickly and that is capable of continuous monitoring and of individually analyzing the ion concentrations of a plurality of ion species. The problem is addressed by a solution analysis system that is characterized in that: an impedance measurement device 1 carries out multivariate analysis on frequency-resistance characteristic data that has been detected using an impedance method for a known solution having a known concentration of a specific ion species; a plurality of constants corresponding to frequency measurement points are determined; of the plurality of determined constants, characteristic constants unique to the specific ion species and the frequencies corresponding to the constants are made to be constant-frequency correspondence information; and the impedance measurement device 1 calculates the concentration of the specific ion species in an unknown solution for which the concentration of the specific ion species is unknown on the basis of measurement data obtained through resistance measurement of the unknown solution using the impedance method and the information about the correspondence between the determined characteristic constants unique to the specific ion species and frequencies.
(FR)La présente invention vise à fournir un système d'analyse de solution, au moyen duquel une analyse peut être mise en œuvre simplement et rapidement, et qui est capable de surveiller de manière continue et d'analyser individuellement les concentrations d'ions d'une pluralité d'espèces d'ion. À cet effet, l'invention concerne un système d'analyse de solution qui est caractérisé comme suit : un dispositif de mesure d'impédance (1) réalise une analyse multivariée sur des données de caractéristique de résistance de fréquence qui ont été détectées à l'aide d'un procédé d'impédance pour une solution connue ayant une concentration connue d'une espèce d'ion spécifique ; une pluralité de constantes correspondant à des points de mesure de fréquence sont déterminées ; parmi la pluralité de constantes déterminées, des constantes caractéristiques uniques à l'espèce d'ion spécifique et les fréquences correspondant aux constantes sont faites pour être des informations de correspondance de fréquence/constante ; et le dispositif de mesure d'impédance (1) calcule la concentration de l'espèce d'ion spécifique dans une solution inconnue pour laquelle la concentration de l'espèce d'ion spécifique est inconnue, sur la base de données de mesure obtenues par mesure de résistance de la solution inconnue à l'aide du procédé d'impédance et des informations relatives à la correspondance entre les constantes caractéristiques déterminées uniques à l'espèce d'ion spécifique et des fréquences.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)