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1. (WO2017168608) CONTACTLESS VOLTAGE MEASUREMENT DEVICE AND CONTACTLESS VOLTAGE MEASUREMENT METHOD
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Pub. No.: WO/2017/168608 International Application No.: PCT/JP2016/060315
Publication Date: 05.10.2017 International Filing Date: 30.03.2016
IPC:
G01R 15/06 (2006.01) ,G01R 15/16 (2006.01) ,G01R 19/00 (2006.01)
Applicants: HITACHI SYSTEMS, LTD.[JP/JP]; 2-1, Osaki 1-chome, Shinagawa-ku, Tokyo 1418672, JP
Inventors: WATANABE, Kazuki; JP
FURUTA, Futoshi; JP
KANEKO, Minoru; JP
NARITA, Yoshihito; JP
IMAMURA, Akihiro; JP
TADA, Kazuki; JP
Agent: TSUTSUI & ASSOCIATES; 3F, Shinjuku Gyoen Bldg., 3-10, Shinjuku 2-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1600022, JP
Priority Data:
Title (EN) CONTACTLESS VOLTAGE MEASUREMENT DEVICE AND CONTACTLESS VOLTAGE MEASUREMENT METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE TENSION SANS CONTACT ET PROCÉDÉ DE MESURE DE TENSION SANS CONTACT
(JA) 非接触電圧測定装置および非接触電圧測定方法
Abstract: front page image
(EN) Provided is a contactless voltage measurement device (1) for contactlessly measuring the voltage of a measurement object (2), wherein: the contactless voltage measurement device (1) has a probe A (11a) and a probe B (11b) mounted on the measurement object (2), and a measurement unit (20) for determining the voltage of the measurement object (2) and outputting the determined voltage on the basis of a first measured voltage and a second measured voltage measured by the probe A (11a) and the probe B (11b); a CY and a CZ having different capacitance values are respectively formed in the probe A (11a) and the probe B (11b); and the measurement unit (20) has a voltage evaluation unit (22) for evaluating the first measured voltage and the second measured voltage measured by the probe A (11a) and the probe B (11b), and a computation unit (23) for calculating the voltage of the measurement object (2) on the basis of the first measured voltage and the second measured voltage evaluated by the voltage evaluation unit (22) and the capacitance values of the CY and the CZ.
(FR) L'invention concerne un dispositif de mesure de tension sans contact (1) pour mesurer sans contact la tension d'un objet de mesure (2), le dispositif de mesure de tension sans contact (1) comportant une sonde A (11a) et une sonde B (11b) montées sur l'objet de mesure (2), et une unité de mesure (20) pour déterminer la tension de l'objet de mesure (2) et délivrer la tension déterminée sur la base d'une première tension mesurée et d'une seconde tension mesurée mesurées par la sonde A (11a) et la sonde B (11b) ; un CY et un CZ ayant des valeurs de capacité différentes sont respectivement formés dans la sonde A (11a) et la sonde B (11b) ; et l'unité de mesure (20) comprend une unité d'évaluation de tension (22) pour évaluer la première tension mesurée et la seconde tension mesurée mesurées par la sonde A (11a) et la sonde B (11b), et une unité de calcul (23) pour calculer la tension de l'objet de mesure (2) sur la base de la première tension mesurée et de la seconde tension mesurée évaluées par l'unité d'évaluation de tension (22) et des valeurs de capacité du CY et du CZ.
(JA) 測定対象(2)の電圧を非接触で測定する非接触電圧測定装置(1)であって、測定対象(2)に装着するプローブA(11a)及びプローブB(11b)と、プローブA(11a)及びプローブB(11b)において測定された第1の測定電圧及び第2の測定電圧に基づいて、測定対象(2)の電圧を求めて出力する測定部(20)とを有し、プローブA(11a)及びプローブB(11b)には、それぞれ、容量値が異なるCY及びCZが形成されており、測定部(20)は、プローブA(11a)及びプローブB(11b)において測定された前記第1の測定電圧及び前記第2の測定電圧を評価する電圧評価部(22)と、電圧評価部(22)により評価された前記第1の測定電圧及び前記第2の測定電圧と、CY及びCZの容量値とに基づいて測定対象(2)の電圧を算出する演算部(23)とを有する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)