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1. (WO2017168524) ANALYSIS SERVER DEVICE, DATA ANALYSIS SYSTEM, AND DATA ANALYSIS METHOD
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Pub. No.:    WO/2017/168524    International Application No.:    PCT/JP2016/059940
Publication Date: 05.10.2017 International Filing Date: 28.03.2016
IPC:
G06F 17/30 (2006.01), G06F 19/00 (2011.01)
Applicants: HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280 (JP)
Inventors: SERITA Susumu; (JP).
TAJIMA Yoshiyuki; (JP).
AKITOMI Tomoaki; (JP).
KUDO Fumiya; (JP)
Agent: HIRAKI Yusuke; (JP)
Priority Data:
Title (EN) ANALYSIS SERVER DEVICE, DATA ANALYSIS SYSTEM, AND DATA ANALYSIS METHOD
(FR) DISPOSITIF DE SERVEUR D'ANALYSE, SYSTÈME D'ANALYSE DE DONNÉES ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DE DONNÉES
(JA) 分析用サーバ装置、データ解析システム、及びデータ解析方法
Abstract: front page image
(EN)A technology for extracting a factor (pattern of event) that affects an objective index (objective variable) is provided. A data analysis device according to the present disclosure executes, with respect to explanatory variable data included in data to be analyzed, a process for generating a time-series pattern in a predetermined range, a process for calculating a correlation value between the time-series pattern and at least one piece of objective variable data included in the data to be analyzed, and a process for outputting, as an analysis result, the time-series pattern corresponding to the correlation value with the correlation value.
(FR)L'invention concerne une technologie pour extraire un facteur (modèle d'événement) affectant un indice objectif (variable objective). Un dispositif d'analyse de données selon la présente invention exécute, par rapport à des données variables explicatives comprises dans des données à analyser, un processus pour générer un modèle de série chronologique dans une plage prédéterminée, un processus pour calculer une valeur de corrélation entre le modèle de série chronologique et au moins un élément de données variables objectives comprises dans les données à analyser et un processus pour émettre en sortie, en tant que résultat d'analyse, le modèle de série chronologique correspondant à la valeur de corrélation avec la valeur de corrélation.
(JA)目的指標(目的変数)に影響を与える要因(イベントのパタン)を抽出する技術を提供する。 本開示によるデータ分析装置は、分析対象データに含まれる説明変数データについて、所定の範囲内における時系列パタンを生成する処理と、時系列パタンと分析対象データに含まれる少なくとも1つの目的変数データとの相関値を算出する処理と、相関値と共に、相関値に対応する時系列パタンを分析結果として出力する処理と、を実行する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)