Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persist, please contact us atFeedback&Contact
1. (WO2017156779) TEST PROBE OF DETECTION APPARATUS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2017/156779 International Application No.: PCT/CN2016/076760
Publication Date: 21.09.2017 International Filing Date: 18.03.2016
IPC:
G01R 1/067 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
R
MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1
Details of instruments or arrangements of the types covered by groups G01R5/-G01R13/122
02
General constructional details
06
Measuring leads; Measuring probes
067
Measuring probes
Applicants:
深圳市艾励美特科技有限公司 SHENZHEN ULMT TECHNOLOGY CO.,LTD [CN/CN]; 中国广东省深圳市 龙华新区中国广东省深圳市龙华新区观澜街道樟坑径下围工业区一路14号艾励美特工业园 ULMT Industrial Park NO.14, Road 1, Zhangkengjing Xiawei Industrial Area, Guanlan Street, Longhua New District Shenzhen, Guangdong 518110, CN
Inventors:
聂林红 NIE, Linhong; CN
Agent:
北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙) BEIJING LAWSING IP FIRM; 中国北京市 朝阳区朝阳门外大街18号丰联广场12层B1212 Room 1212 Fulllink Plaza, No.18 Chaoyangmenwai Ave. Chaoyang District, Beijing 100020, CN
Priority Data:
Title (EN) TEST PROBE OF DETECTION APPARATUS
(FR) SONDE DE TEST D'APPAREIL DE DÉTECTION
(ZH) 一种检测装置的测试探针
Abstract:
(EN) A test probe (20) of a detection apparatus. The test probe comprises a probe sheath (10) and the probe (20). The probe sheath (10) comprises a first connecting end (11), a second connecting end (12) and a connecting lead (13). The connecting lead (13) is flexibly connected between the first connecting end (11) and the second connecting end (12). The probe (20) is inserted on the second connecting end (12). The first connecting end (11) is welded onto a test PCB board (30) and forms a first signal connection area on that position. Other signal connection areas are provided on the test PCB board (30). Since the connection lead (13) is flexibly connected between the first connecting end (11) and the second connecting end (12), when the probe is inserted on the second connecting end (12), the probe (20) can be inserted into the test PCB board (30) from other signal connection areas and from a long distance and with a large span, thereby completing a test task for a functional module on a test board under the test PCB board (30).
(FR) L'invention concerne une sonde de test (20) d'un appareil de détection. La sonde de test comprend une gaine de sonde (10) et la sonde (20). La gaine de sonde (10) comprend une première extrémité de connexion (11), une seconde extrémité de connexion (12) et un fil de connexion (13). Le fil de connexion (13) est connecté de manière flexible entre la première extrémité de connexion (11) et la seconde extrémité de connexion (12). La sonde (20) est insérée sur la seconde extrémité de connexion (12). La première extrémité de connexion (11) est soudée sur une carte de circuits imprimés (PCB) de test (30) et forme une première zone de connexion de signal sur cette position. D'autres zones de connexion de signal sont formées sur la carte PCB de test (30). Comme le fil de connexion (13) est connecté de manière flexible entre la première extrémité de connexion (11) et la seconde extrémité de connexion (12), lorsque la sonde est insérée sur la seconde extrémité de connexion (12), la sonde (20) peut être insérée dans la carte PCB de test (30) à partir d'autres zones de connexion de signal et à partir d'une longue distance et avec une grande portée, ce qui achève une tâche de test pour un module fonctionnel sur une carte de test sous la carte PCB de test (30).
(ZH) 一种检测装置的测试探针(20),其包括针套(10)以及探针(20),其中,该针套(10)包括第一连接端(11)、第二连接端(12)以及连接导线(13),该连接导线(13)柔性连接在该第一连接端(11)与该第二连接端之间(12),该探针(20)插接在该第二连接端(12)上,该第一连接端(11)焊接在测试PCB板(30)上,并在该位置形成第一信号连接区域,在该测试PCB板(30)上设置有其他信号连接区域,由于该连接导线(13)是柔性连接在该第一连接端(11)与该第二连接端(12)之间的,所以当该探针插接在该第二连接端(12)上的时候,该探针(20)能够长距离大跨度的从其他信号连接区域处插入该测试PCB板(30),从而完成对该测试PCB板(30)下方测试板上功能模块的测试工作。
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)