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1. (WO2017154581) FEATURE POINT DETECTION METHOD AND APPARATUS, IMAGE PROCESSING SYSTEM, AND MONITORING SYSTEM
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Pub. No.: WO/2017/154581 International Application No.: PCT/JP2017/006632
Publication Date: 14.09.2017 International Filing Date: 22.02.2017
IPC:
G06K 9/00 (2006.01) ,G06K 9/62 (2006.01)
[IPC code unknown for G06K 9][IPC code unknown for G06K 9/62]
Applicants:
CANON KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 30-2,Shimomaruko 3-chome,Ohta-ku, Tokyo 1468501, JP
Inventors:
ZHAO Dongyue; JP
HUANG Yaohai; JP
LI Xian; JP
Agent:
ABE TAKUMA; C/O CANON KABUSHIKI KAISHA, 30-2,Shimomaruko 3-chome,Ohta-ku, Tokyo 1468501, JP
KUROIWA SOGO; C/O CANON KABUSHIKI KAISHA, 30-2,Shimomaruko 3-chome,Ohta-ku, Tokyo 1468501, JP
Priority Data:
201610127580.X07.03.2016CN
Title (EN) FEATURE POINT DETECTION METHOD AND APPARATUS, IMAGE PROCESSING SYSTEM, AND MONITORING SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL DE DÉTECTION DE POINT CARACTÉRISTIQUE, SYSTÈME DE TRAITEMENT D'IMAGE ET SYSTÈME DE SURVEILLANCE
Abstract:
(EN) One of the aspects of the present invention discloses a feature point detection method. The method comprises: acquiring a face region in an input image; acquiring first positions of first feature points and second feature points according to a pre-generated first model; estimating second positions of the first feature points according to the first positions of the first feature points and pre-generated second models; detecting third positions of the first feature points and the second feature points according to the second positions of the first feature points, the first positions of the second feature points and pre-generated third models. According to the present invention, the final detected face shape could approach to the actual face shape much more.
(FR) La présente invention porte, selon l'un des aspects, sur un procédé de détection de point caractéristique. Le procédé consiste : à acquérir une région de visage dans une image d'entrée ; à acquérir des premières positions de premiers points caractéristiques et de seconds points caractéristiques en fonction d'un premier modèle prégénéré ; à estimer des deuxièmes positions des premiers points caractéristiques en fonction des premières positions des premiers points caractéristiques et de deuxièmes modèles prégénérés ; à détecter de troisièmes positions des premiers points caractéristiques et des deuxièmes points caractéristiques en fonction des deuxièmes positions des premiers points caractéristiques, des premières positions des seconds points caractéristiques et de troisièmes modèles prégénérés. Selon la présente invention, la forme de visage détectée finale pourrait s'approcher davantage de la forme de visage réelle.
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Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)