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1. (WO2017153430) METHOD FOR A HIGH-RESOLUTION LOCAL IMAGING OF A STRUCTURE IN A SAMPLE IN ORDER TO DETECT REACTIONS OF AN OBJECT OF INTEREST TO ALTERED ENVIRONMENTAL CONDITIONS
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Pub. No.: WO/2017/153430 International Application No.: PCT/EP2017/055360
Publication Date: 14.09.2017 International Filing Date: 07.03.2017
IPC:
G01N 21/64 (2006.01)
[IPC code unknown for G01N 21/64]
Applicants:
MAX-PLANCK-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E.V. [DE/DE]; Hofgartenstrasse 8 80539 München, DE
Inventors:
HELL, Stefan W.; DE
GÖTTFERT, Fabian; DE
WESTPHAL, Volker; DE
Agent:
REHBERG HÜPPE + PARTNER PATENTANWÄLTE PARTG MBB; Robert-Gernhardt-Platz 1 37073 Göttingen, DE
Priority Data:
10 2016 104 100.907.03.2016DE
Title (EN) METHOD FOR A HIGH-RESOLUTION LOCAL IMAGING OF A STRUCTURE IN A SAMPLE IN ORDER TO DETECT REACTIONS OF AN OBJECT OF INTEREST TO ALTERED ENVIRONMENTAL CONDITIONS
(FR) PROCÉDÉ D'IMAGERIE LOCALE À HAUTE RÉSOLUTION D'UNE STRUCTURE DANS UN ÉCHANTILLON, AFIN DE DÉTECTER DES RÉACTIONS D'UN OBJET PRÉSENTANT UN INTÉRÊT À DES CONDITIONS ENVIRONNEMENTALES MODIFIÉES
(DE) VERFAHREN ZUM HOCHAUFGELÖSTEN LOKALEN ABBILDEN EINER STRUKTUR IN EINER PROBE, UM REAKTIONEN EINES INTERESSIERENDEN OBJEKTS AUF VERÄNDERTE UMGEBUNGSBEDINGUNGEN ZU ERFASSEN
Abstract:
(EN) The aim of the invention is a high-resolution imaging of a structure marked with luminescent markers in a sample. This is achieved in that light (2) which affects the emission of luminescent light by means of the luminescent markers is oriented towards the sample with an intensity distribution which has a zero point (4) adjoined by intensity maxima (3). Sub-regions of the sample to be scanned are scanned using the zero point (4), and luminescent light emitted from the region of the zero point (4) is registered and assigned to the location of the zero point (4) in the sample. Each of a plurality of copies of an object of interest is arranged so as to overlap with one of the sub-regions of the sample (8) to be scanned, and the plurality of copies of the object of interest are subjected to altered environmental conditions in order to detect reactions of the object of interest to the altered environmental conditions. The individual sub-regions of the sample (8) are scanned using the respective zero point (4) during and/or prior to and after the environmental conditions are altered. Dimensions of the sub-regions of the sample to be scanned are delimited in at least one direction in which the intensity maxima (3) adjoin the zero point (4) in the sample such that the sub-regions are not larger than 75% of the spacing (Do) of the intensity maxima (3) in said direction.
(FR) En vue de l'imagerie à haute résolution d'une structure, marquée à l'aide de marqueurs luminescents, dans un échantillon, de la lumière (2) qui influe sur l'émission de lumière luminescente par les marqueurs luminescents est orientée vers l'échantillon avec une répartition d'intensité qui présente un point nul (4) proche de maxima d'intensité (3). Des parties à balayer de l'échantillon sont balayées avec le point nul (4) et la lumière luminescente émise à partir de la région du point nul (4) est enregistrée et associée à l'emplacement du point nul (4) dans l'échantillon. Plusieurs spécimens d'un objet présentant un intérêt sont respectivement disposés de manière à se superposer à l'une des parties à balayer de l'échantillon (8) et les plusieurs spécimens de l'objet présentant un intérêt sont soumis à des conditions environnantes modifiées, afin de détecter des réactions ayant lieu ensuite de l'objet présentant un intérêt. Les parties individuelles de l'échantillon (8) sont balayées avec le point nul (4) respectif pendant et/ou avant et après les conditions environnantes modifiées. Des dimensions des parties à balayer de l'échantillon sont limitées dans au moins une direction dans laquelle les maxima d'intensité (3) du point nul (4) sont proches, de telle sorte qu'elles ne soient pas supérieures à 75 % d'une distance (Do) entre les maxima d'intensité (3) dans cette direction.
(DE) Zum hochaufgelösten Abbilden einer mit Lumineszenzmarkern markierten Struktur in einer Probe wird Licht (2), das sich auf die Emission von Lumineszenzlicht durch die Lumineszenzmarker auswirkt, mit einer Intensitätsverteilung auf die Probe gerichtet, die eine von Intensitätsmaxima (3) benachbarte Nullstelle (4) aufweist. Abzutastende Teilbereiche der Probe werden mit der Nullstelle (4) abgetastet, und aus dem Bereich der Nullstelle (4) emittiertes Lumineszenzlicht wird registriert und dem Ort der Nullstelle (4) in der Probe zugeordnet. Dabei werden mehrere Exemplare eines interessierenden Objekts jeweils überschneidend mit einem der abzutastenden Teilbereiche der Probe (8) angeordnet und die mehreren Exemplare des interessierenden Objekts werden veränderten Umgebungsbedingungen unterworfen, um hierauf erfolgende Reaktionen des interessierenden Objekts zu erfassen. Die einzelnen Teilbereiche der Probe (8) werden während und/oder vor und nach den veränderten Umgebungsbedingungen mit der jeweiligen Nullstelle (4) abgetastet. Abmessungen der abzutastenden Teilbereiche der Probe werden in mindestens einer Richtung, in der die Intensitätsmaxima (3) der Nullstelle (4) in der Probe benachbart sind, so begrenzt, dass sie nicht größer sind als 75 % eines Abstands (Do) der Intensitätsmaxima (3) in dieser Richtung sind.
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Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)