Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persist, please contact us atFeedback&Contact
1. (WO2017152911) METHOD AND MEASURING DEVICE FOR DETERMINING A LAYER THICKNESS OF A PLASTIC FILM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.: WO/2017/152911 International Application No.: PCT/DE2017/100180
Publication Date: 14.09.2017 International Filing Date: 08.03.2017
IPC:
G01B 11/06 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
B
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11
Measuring arrangements characterised by the use of optical means
02
for measuring length, width, or thickness
06
for measuring thickness
Applicants:
INOEX GMBH INNOVATIONEN UND AUSRÜSTUNGEN FÜR DIE EXTRUSIONSTECHNIK [DE/DE]; Maschweg 70 49324 Melle, DE
Inventors:
PETERMANN, Jan Hendrik; DE
NERLING, Christoph; DE
Agent:
ADVOPAT PATENT- UND RECHTSANWÄLTE; Theaterstr. 6 30159 Hannover, DE
Priority Data:
10 2016 104 145.908.03.2016DE
Title (EN) METHOD AND MEASURING DEVICE FOR DETERMINING A LAYER THICKNESS OF A PLASTIC FILM
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MESURE POUR DÉTERMINER UNE ÉPAISSEUR DE COUCHE D'UNE FEUILLE EN PLASTIQUE
(DE) VERFAHREN UND MESSVORRICHTUNG ZUM ERMITTELN EINER SCHICHTDICKE EINER KUNSTSTOFF-FOLIE
Abstract:
(EN) The invention relates to a method and a measuring device (1) for determining a layer thickness (d) of a plastic film (2), comprising at least the following steps: laying or guiding the plastic film (2) with a first THz refractive index onto a base layer (4) having a second THz refractive index that is greater than the first THz refractive index; radiating THz radiation (3) through a surrounding medium (9) with a third THz refractive index, e.g. air, onto a surface (2a) of the plastic film (2) in the region in which it is in contact with the base layer (4), wherein the third THz refractive index is less than the first THz refractive index; measuring the intensity (I) of THz radiation (3b) reflected from the surface (2a) of the plastic film (2); and determining the layer thickness (d) of the plastic film (2) from the measured intensity of the reflected THz radiation (3b). The determining can be carried out in particular with multi-frequency radiation and a measurement in the frequency range, e.g. as the local minimum of the reflected radiation.
(FR) L'invention concerne un procédé et un dispositif de mesure (1) pour déterminer une épaisseur de couche (d) d'une feuille en plastique (2), le procédé comprenant au moins les étapes suivantes : pose ou guidage de la feuille en plastique (2) présentant un premier indice de réfraction d'ondes térahertz sur un support (4) qui présente un deuxième indice de réfraction d'ondes térahertz qui est supérieur au premier indice de réfraction d'ondes térahertz, exposition à un rayonnement térahertz (3) à travers un milieu environnant (9) présentant un troisième indice de réfraction d'ondes térahertz, par exemple de l'air, sur une face supérieure (2a) de la feuille en plastique (2) dans la région de son appui sur le support (4), le troisième indice de réfraction d'ondes térahertz étant inférieur au premier indice de réfraction d'ondes térahertz, mesure de l'intensité (I) d'un rayonnement térahertz (3b) réfléchi par la face supérieure (2a) de la feuille en plastique (2), et détermination de l'épaisseur de couche (d) de la feuille en plastique (2) à partir de l'intensité mesurée du rayonnement térahertz (3b) réfléchi. La détermination peut en particulier s'effectuer à l'aide d'un rayonnement multi-fréquences et d'une mesure dans la plage de fréquences, par exemple en tant que minimum local du rayonnement réfléchi.
(DE) Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Messvorrichtung (1) zum Ermitteln einer Schichtdicke (d) einer Kunststoff-Folie (2), mit mindestens folgenden Schritten: Auflegen oder Führen der Kunststoff-Folie (2) mit einem ersten Terahertz-Brechungsindex auf eine Unterlage (4), die einen zweiten Terahertz-Brechungsindex aufweist, der höher als der erste Terahertz-Brechungsindex ist, Einstrahlen einer Terahertz-Strahlung (3) durch ein Umgebungsmedium (9) mit einem dritten Terahertz-Brechungsindex, z. B. Luft, auf eine Oberseite (2a) der Kunststoff-Folie (2) im Bereich ihrer Auflage auf der Unterlage (4), wobei der dritte Terahertz-Brechungsindex geringer als der erste Terahertz-Brechungsindex ist, Messen der Intensität (I) einer von der Oberseite (2a) der Kunststoff-Folie (2) reflektierten Terahertz-Strahlung (3b), Ermittlung der Schichtdicke (d) der Kunststoff-Folie (2) aus der gemessenen Intensität der reflektierten Terahertz-Strahlung (3b). Die Ermittlung kann insbesondere mit multifrequenter Strahlung und einer Messung im Frequenzbereich erfolgen, z. B. als lokales Minimum der reflektieren Strahlung.
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)