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1. (WO2017152534) METHOD AND DEVICE FOR ACQUIRING DDR ODT PARAMETER
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Pub. No.: WO/2017/152534 International Application No.: PCT/CN2016/085726
Publication Date: 14.09.2017 International Filing Date: 14.06.2016
IPC:
G11C 29/56 (2006.01)
G PHYSICS
11
INFORMATION STORAGE
C
STATIC STORES
29
Checking stores for correct operation; Testing stores during standby or offline operation
56
External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment (ATE); Interfaces therefor
Applicants:
中兴通讯股份有限公司 ZTE CORPORATION [CN/CN]; 中国广东省深圳市 南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦 ZTE Plaza, Keji Road South Hi-Tech Industrial Park Nanshan Shenzhen, Guangdong 518057, CN
Inventors:
李东阳 LI, Dongyang; CN
陈之光 CHEN, Zhiguang; CN
Agent:
北京安信方达知识产权代理有限公司 AFD CHINA INTELLECTUAL PROPERTY LAW OFFICE; 中国北京市 海淀区学清路8号B座1601A Suite B 1601A, 8 Xue Qing Rd. Haidian Beijing 100192, CN
Priority Data:
201610135664.810.03.2016CN
Title (EN) METHOD AND DEVICE FOR ACQUIRING DDR ODT PARAMETER
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'ACQUISITION DE PARAMÈTRE ODT DDR
(ZH) 一种获取DDR ODT参数的方法和装置
Abstract:
(EN) A method and device for acquiring an on-die termination (ODT) parameter of a double data rate (DDR) synchronous dynamic random access memory. The method comprises: arranging the m-th value of a DDR ODT and the n-th value of a column address pulse gate latent period (CL) into a DDR via an extension register (EMR) (100); writing pre-set data into the DDR and reading data from the DDR (101); if it is determined that the written data is the same as the read data, saving the m-th value of the DDR ODT, the n-th value of the CL and a correlation between information represented successfully (102); executing the step of arranging the m-th value of the DDR ODT and the (n+1)-th value of the CL into the DDR via the EMR (103); executing the step of arranging the (m+1)-th value of the DDR ODT and the first value of the CL into the DDR via the EMR until the values of all the DDR ODTs and all the CLs are completed (104); and acquiring the optimal values of the DDR ODT and the CL according to the correlation (105).
(FR) L'invention concerne un procédé et un dispositif pour acquérir un paramètre de terminaison sur puce (ODT) d'une mémoire vive dynamique synchrone à double débit de données (DDR). Le procédé consiste : à disposer la m-ième valeur d'une ODT DDR et la n-ième valeur d'une période latente de grille d'impulsion d'adresse de colonne (CL) dans un DDR par l'intermédiaire d'un registre d'extension (EMR) (100) ; à écrire des données prédéfinies dans le DDR et à lire des données à partir du DDR (101) ; s'il est déterminé que les données écrites sont les mêmes que les données lues, à sauvegarder la m-ième valeur d'ODT DDR, la n-ième valeur de CL et une corrélation entre des informations représentées avec succès (102) ; à exécuter l'étape de disposition de la m-ième valeur d'ODT DDR et de la (n+1)-ième valeur de CL dans le DDR par l'intermédiaire de l'EMR (103) ; à exécuter l'étape de disposition de la (m+1)-ième valeur d'ODT DDR et de la première valeur de CL dans le DDR par l'intermédiaire de l'EMR jusqu'à ce que les valeurs de toutes les ODT DDR et toutes les CL soient complétées (104) ; et à acquérir les valeurs optimales d'ODT DDR et de CL conformément à la corrélation (105).
(ZH) 一种获取双数据速率同步动态随机存储器(DDR)的终结电阻(ODT)参数的方法和装置,所述方法包括:通过扩展寄存器EMR将DDR ODT的第m个取值和列地址脉冲选通潜伏期CL的第n个取值设置到DDR中(100);将预设的数据写入DDR中,并从DDR中读取数据(101);若判断出写入的数据和读取的数据相同,保存DDR ODT的第m个取值、CL的第n个取值和表示成功的信息之间的对应关系(102);执行通过EMR将DDR ODT的第m个取值和CL的第(n+1)个取值设置到DDR中的步骤(103);执行通过EMR将DDR ODT的第(m+1)个取值和CL的第1个取值设置到DDR中的步骤,直到所有DDR ODT和所有CL的取值完成(104);根据对应关系获取DDR ODT和CL的最优取值(105)。
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Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)