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1. (WO2017150013) TEMPERATURE DETECTION CIRCUIT
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Pub. No.: WO/2017/150013 International Application No.: PCT/JP2017/002432
Publication Date: 08.09.2017 International Filing Date: 25.01.2017
IPC:
G01K 7/00 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
K
MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
7
Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat
Applicants:
三洋電機株式会社 SANYO ELECTRIC CO., LTD. [JP/JP]; 大阪府大東市三洋町1番1号 1-1, Sanyo-cho, Daito-shi, Osaka 5748534, JP
Inventors:
矢野 準也 YANO Junya; --
Agent:
徳田 佳昭 TOKUDA Yoshiaki; JP
野村 幸一 NOMURA Koichi; JP
Priority Data:
2016-03831329.02.2016JP
Title (EN) TEMPERATURE DETECTION CIRCUIT
(FR) CIRCUIT DE DÉTECTION DE TEMPÉRATURE
(JA) 温度検出回路
Abstract:
(EN) In order to provide a temperature detection circuit capable of diagnosing a failure of a temperature monitoring circuit, while suppressing a circuit scale increase and a cost increase, a temperature detection circuit (1) is provided with a temperature measuring circuit (10), an arithmetic circuit (20), a temperature monitoring circuit (30), and a diagnostic signal generation circuit (40). The temperature measuring circuit (10) outputs, to a measurement node (N1), a temperature measurement voltage (V1) corresponding to a temperature. The arithmetic circuit (20) calculates the temperature on the basis of the temperature measurement voltage (V1). In the cases where the temperature measurement voltage (V1) is within a predetermined abnormal voltage range, the temperature monitoring circuit (30) validates an abnormality detection signal (V2) indicating a temperature abnormality. When a failure of the temperature monitoring circuit (30) is diagnosed, the diagnostic signal generation circuit (40) supplies a diagnostic signal to the measurement node (N1), and changes the temperature measurement voltage (V1).
(FR) Afin de fournir un circuit de détection de température apte à diagnostiquer une défaillance d'un circuit de surveillance de température, tout en supprimant une augmentation d'échelle de circuit et une augmentation des coûts, l'invention concerne un circuit de détection de température (1) qui comprend un circuit de mesure de température (10), un circuit arithmétique (20), un circuit de surveillance de température (30), et un circuit de génération de signal de diagnostic (40). Le circuit de mesure de température (10) délivre en sortie, à un nœud de mesure (N1), une tension de mesure de température (V1) correspondant à une température. Le circuit arithmétique (20) calcule la température sur la base de la tension de mesure de température (V1). Dans les cas où la tension de mesure de température (V1) est dans une plage de tension anormale prédéterminée, le circuit de surveillance de température (30) valide un signal de détection d'anomalie (V2) indiquant une anomalie de température. Lorsqu'une défaillance du circuit de surveillance de température (30) est diagnostiquée, le circuit de génération de signal de diagnostic (40) fournit un signal de diagnostic au nœud de mesure (N1), et modifie la tension de mesure de température (V1).
(JA) 回路規模とコストの増大を抑制しつつ温度監視回路の故障を診断できる温度検出回路を提供するために、温度検出回路(1)は、温度計測回路(10)と、演算回路(20)と、温度監視回路(30)と、診断信号生成回路(40)とを備える。温度計測回路(10)は、温度に応じた温度計測電圧(V1)を計測ノード(N1)に出力する。演算回路(20)は、温度計測電圧(V1)に基づいて温度を演算する。温度監視回路(30)は、温度計測電圧(V1)が予め定められた異常電圧範囲内にある場合、温度異常を示す異常検知信号(V2)を有効にする。診断信号生成回路(40)は、温度監視回路(30)の故障診断時、計測ノード(N1)に診断信号を供給して、温度計測電圧(V1)を変化させる。
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Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)