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1. (WO2017149913) CRYSTAL PHASE QUANTITATIVE ANALYSIS DEVICE, CRYSTAL PHASE QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD, AND CRYSTAL PHASE QUANTITATIVE ANALYSIS PROGRAM
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Pub. No.: WO/2017/149913 International Application No.: PCT/JP2016/088488
Publication Date: 08.09.2017 International Filing Date: 22.12.2016
IPC:
G01N 23/207 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23
Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation not covered by group G01N21/ or G01N22/159
20
by using diffraction of the radiation, e.g. for investigating crystal structure; by using reflection of the radiation
207
by means of diffractometry using detectors, e.g. using an analysing crystal or a crystal to be analysed in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
Applicants:
株式会社リガク RIGAKU CORPORATION [JP/JP]; 東京都昭島市松原町3丁目9番12号 3-9-12, Matsubara-cho, Akishima-shi, Tokyo 1968666, JP
Inventors:
虎谷 秀穂 TORAYA, Hideo; JP
姫田 章宏 HIMEDA, Akihiro; JP
Agent:
特許業務法人はるか国際特許事務所 HARUKA PATENT & TRADEMARK ATTORNEYS; 東京都千代田区六番町3 六番町SKビル5階 Rokubancho SK Bldg. 5th Floor, 3 Rokuban-cho, Chiyoda-ku, Tokyo 1020085, JP
Priority Data:
2016-03828029.02.2016JP
Title (EN) CRYSTAL PHASE QUANTITATIVE ANALYSIS DEVICE, CRYSTAL PHASE QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD, AND CRYSTAL PHASE QUANTITATIVE ANALYSIS PROGRAM
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE QUANTITATIVE EN PHASE CRISTALLINE, PROCÉDÉ D'ANALYSE QUANTITATIVE EN PHASE CRISTALLINE ET PROGRAMME D'ANALYSE QUANTITATIVE EN PHASE CRISTALLINE
(JA) 結晶相定量分析装置、結晶相定量分析方法、及び結晶相定量分析プログラム
Abstract:
(EN) Provided are an X-ray analysis operation guide system, operation guide method and operation guide program with which it is easy for a user to understand a measurement of an X-ray optical system to be selected. This crystal phase quantitative analysis device is provided with: a qualitative analysis result acquiring means for acquiring information relating to a plurality of crystal phases contained in a specimen; and a weight ratio calculating means for calculating the weight ratios of the plurality of crystal phases on the basis of the sum of diffraction intensities subjected to correction with respect to the Lorentz-polarization factor, for the plurality of crystal phases, the chemical formula weights for the plurality of crystal phases, and the sum of the squares of the number of electrons belonging to each atom contained in each chemical formula unit, for the plurality of crystal phases.
(FR) La présente invention concerne un système de guide de fonctionnement d'analyse aux rayons X, un procédé de guide de fonctionnement et un programme de guide de fonctionnement avec lesquels la mesure d'un système optique à rayons X à sélectionner est facile à comprendre par un utilisateur. Ce dispositif d'analyse quantitative en phase cristalline est pourvu : d'un moyen d'acquisition de résultat d'analyse qualitative permettant d'acquérir des informations relatives à une pluralité de phases cristallines contenue dans un échantillon ; et d'un moyen de calcul de rapports en poids permettant de calculer les rapports en poids de la pluralité de phases cristallines sur la base de la somme des intensités de diffraction soumises à une correction par rapport au facteur de polarisation de Lorentz, pour la pluralité de phases cristallines, des poids des formules chimiques pour la pluralité de phases cristallines et de la somme des carrés du nombre d'électrons appartenant à chaque atome contenu dans chaque unité de formule chimique, pour la pluralité de phases cristallines.
(JA) 選択されるX線光学系の測定をユーザが容易に理解することが可能なX線分析の操作ガイドシステム、操作ガイド方法、及び操作ガイドプログラムの提供。試料に含まれる複数の結晶相の情報を取得する定性分析結果取得手段と、複数の結晶相における、ローレンツ-偏向因子に対する補正が施された回折強度の和と、化学式量と、化学式単位に含まれる原子それぞれに属する電子の個数の2乗の和と、に基づいて、前記複数の結晶相の重量比を計算する重量比計算手段と、を備える。
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Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)