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1. (WO2017149884) PRESSURE DETECTING DEVICE
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Pub. No.: WO/2017/149884 International Application No.: PCT/JP2016/086324
Publication Date: 08.09.2017 International Filing Date: 07.12.2016
IPC:
G01L 5/16 (2006.01) ,G01L 1/14 (2006.01) ,G01L 5/00 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
L
MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
5
Apparatus for, or methods of, measuring force, e.g. due to impact, work, mechanical power, or torque, adapted for special purposes
16
for measuring several components of force
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
L
MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
1
Measuring force or stress, in general
14
by measuring variations in capacitance or inductance of electrical elements, e.g. by measuring variations of frequency of electrical oscillators
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
L
MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
5
Apparatus for, or methods of, measuring force, e.g. due to impact, work, mechanical power, or torque, adapted for special purposes
Applicants:
NISSHA株式会社 NISSHA CO., LTD. [JP/JP]; 京都府京都市中京区壬生花井町3番地 3, Mibu Hanai-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048551, JP
Inventors:
渡津 裕次 WATAZU, Yuji; JP
柴田 洋介 SHIBATA, Yosuke; JP
Priority Data:
2016-03738329.02.2016JP
Title (EN) PRESSURE DETECTING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE DÉTECTION DE PRESSION
(JA) 圧力検出装置
Abstract:
(EN) [Problem] To detect shear stress, together with stress in a direction perpendicular to an input surface, accurately in a pressure detecting device. [Solution] A first electrode pattern Ty or a second electrode pattern Tx extends between third electrodes Rx that are adjacent to one another in the Y-direction, from among a plurality of third electrodes Rx, such that the first electrode pattern Ty or the second electrode pattern Tx overlaps only part of each of the adjacent third electrodes Rx in a plan view. A microcontroller 25 is capable of detecting an electrostatic capacitance generated in this part. When a second insulator 13 deforms under the application of pressure, the microcontroller 25 calculates a shear force on the basis of a change in the electrostatic capacitance obtained as a result of a change in the overlapping surface area between the third electrodes Rx and the first electrodes Ty or the second electrodes Tx which overlap one another in a plan view.
(FR) [Problème] Détecter avec précision une contrainte de cisaillement, ainsi qu'une contrainte dans une direction perpendiculaire à une surface d'entrée, dans un dispositif de détection de pression. [Solution] Un premier profil d'électrode Ty ou un deuxième profil d'électrode Tx se prolonge entre des troisièmes électrodes Rx adjacentes dans la direction Y, parmi une pluralité de troisièmes électrodes Rx, de sorte que le premier profil d'électrode Ty ou le deuxième profil d'électrode Tx chevauche seulement une partie de chacune des troisièmes électrodes Rx adjacentes en vue en plan. Un microcontrôleur 25 est capable de détecter une capacité électrostatique générée dans cette partie. Lorsqu'un second isolant 13 se déforme sous l'application d'une pression, le microcontrôleur 25 calcule une force de cisaillement sur la base d'un changement de la capacité électrostatique obtenu du fait d'une modification de la surface de chevauchement entre les troisièmes électrodes Rx et les premières électrodes Ty ou les deuxièmes électrodes Tx qui se chevauchent en vue en plan.
(JA) 【課題】 圧力検出装置において、入力面に対して垂直方向の応力と共にせん断応力を精度良く検出する。 【解決手段】 第1電極パターンTy又は第2電極パターンTxは、複数の第3電極RxのうちY方向に隣接する第3電極Rx同士の間に延びることで、隣接する第3電極Rxのそれぞれの一部にのみ平面視で重なっている。マイクロコントローラ25は、上記部分で発生する静電容量を検出可能である。マイクロコントローラ25は、圧力が加えられて第2絶縁体13が変形するときに、平面視で互いに重なっている第3電極Rxと第1電極Ty又は第2電極Txとの重なり面積が変化することで得られた静電容量変化に基づいて、せん断力を算出する。
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Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)