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1. WO2017149142 - QUANTITATIVE NON-LINEAR OPTICAL MICROSCOPE

Publication Number WO/2017/149142
Publication Date 08.09.2017
International Application No. PCT/EP2017/055058
International Filing Date 03.03.2017
IPC
G02B 21/16 2006.1
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
16adapted for ultra-violet illumination
CPC
G02B 21/16
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
16adapted for ultra-violet illumination ; ; Fluorescence microscopes
Applicants
  • CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE [FR]/[FR]
  • ECOLE POLYTECHNIQUE [FR]/[FR]
Inventors
  • BEAUREPAIRE, Emmanuel
  • MAHOU, Pierre
  • SCHANNE-KLEIN, Maire-Claire
  • VUILLEMIN, Nelly
  • SUPATTO, Willy
Agents
  • CABINET NONY
Priority Data
16 5185004.03.2016FR
Publication Language French (FR)
Filing Language French (FR)
Designated States
Title
(EN) QUANTITATIVE NON-LINEAR OPTICAL MICROSCOPE
(FR) MISCROSCOPIE OPTIQUE NON-LINÉAIRE QUANTITATIVE
Abstract
(EN)
The invention relates to a non-linear optical microscope (12) comprising a Bessel excitation laser beam source (28) for exciting a sample (16) under test, a detector (36) for detecting the coherent signals emitted in transmission by the sample (16) under test in response to the excitation by the excitation laser beam, and a filter (38) placed between the sample (16) under test and the detector (36) to prevent the detector (36) from detecting the signals emitted in transmission by the sample (16) under test, said filter (38) extending near the optical axis (Z) of the microscope. The invention also relates to a slide scanner (10) comprising a non-linear optical microscope (12) of said type, a non-linear microscopy method, and a slide scanning method that can be carried out in a microscope (12) and a scanner (10) of said type.
(FR)
L'invention se rapporte à un microscope (12) optique non-linéaire, comprenant une source (28) de faisceau laser excitateur d'un échantillon (16) à tester, du type de Bessel, un détecteur (36) des signaux cohérents émis en transmission par l'échantillon (16) à tester, en réponse à l'excitation par le faisceau laser excitateur, et un filtre (38) disposé entre l'échantillon à tester (16) et le détecteur (36), pour empêcher le détecteur (36) de détecter les signaux émis en transmission par l'échantillon (16) à tester, s'étendant au voisinage de l'axe optique (Z) du microscope (12). L'invention se rapporte également à un scanner de lames (10) comprenant un tel microscope (12) optique non-linéaire, à un procédé de microscopie non-linéaire et à un procédé de scan de lames pouvant être mis en œuvre dans un tel microscope (12) et dans un tel scanner (10), respectivement.
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