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1. (WO2017135366) SEMICONDUCTOR LASER LIGHT SOURCE DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/2017/135366 International Application No.: PCT/JP2017/003749
Publication Date: 10.08.2017 International Filing Date: 02.02.2017
IPC:
H01S 5/022 (2006.01) ,G01P 5/20 (2006.01)
H ELECTRICITY
01
BASIC ELECTRIC ELEMENTS
S
DEVICES USING STIMULATED EMISSION
5
Semiconductor lasers
02
Structural details or components not essential to laser action
022
Mountings; Housings
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
P
MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION OR SHOCK; INDICATING PRESENCE OR ABSENCE OF MOVEMENT;  INDICATING DIRECTION OF MOVEMENT 
5
Measuring speed of fluids, e.g. of air stream; Measuring speed of bodies relative to fluids, e.g. of ship, of aircraft
18
by measuring the time taken by the fluid to traverse a fixed distance
20
using particles entrained by a fluid stream
Applicants:
ウシオ電機株式会社 USHIO DENKI KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目6番5号 1-6-5, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1008150, JP
Inventors:
吉野 雅也 YOSHINO,Masaya; JP
Agent:
特許業務法人 ユニアス国際特許事務所 UNIUS PATENT ATTORNEYS OFFICE; 大阪府大阪市淀川区西中島5丁目13-9 新大阪MTビル1号館2階 First Shin-Osaka MT Bldg. 2nd Floor, 5-13-9 Nishinakajima, Yodogawa-ku, Osaka-shi, Osaka 5320011, JP
Priority Data:
2016-01971604.02.2016JP
Title (EN) SEMICONDUCTOR LASER LIGHT SOURCE DEVICE
(FR) DISPOSITIF SOURCE DE LUMIÈRE LASER À SEMI-CONDUCTEUR
(JA) 半導体レーザ光源装置
Abstract:
(EN) A technique in PIV is provided which makes it possible to suppress reduction in accuracy of measurement results due to shadows of tracer particles. This semiconductor laser light source device is provided with a light source unit which includes multiple emitters arranged in a first direction, and a lens which converts the lasers emitted from the emitters so as to be parallel in a second direction. For each of the multiple emitters, the lens includes multiple lens regions which convert the lasers emitted from the respective emitters so as to be parallel in the second direction. In at least two of the multiple emitters and two lens regions corresponding to the two emitters, the positions in the second direction of the lens regions corresponding to the emitters are different with reference to the positions in the second direction of the respective emitters.
(FR) L'invention concerne une technique en vélocimétrie par images de particules (PIV) qui permet de supprimer une diminution de la précision des résultats de mesure due à des ombres de particules traceuses. Un dispositif source de lumière laser à semi-conducteur selon l'invention est pourvu d'une unité source de lumière qui comprend de multiples émetteurs agencés dans une première direction, et d'une lentille qui convertit les lasers émis par les émetteurs de manière à les rendre parallèles dans une deuxième direction. La lentille comprend de multiples régions de lentille correspondant aux multiples émetteurs, qui convertissent les lasers émis par les émetteurs respectifs de manière à les rendre parallèles dans la deuxième direction. Dans au moins deux des multiples émetteurs et deux régions de lentille correspondant aux deux émetteurs, les positions, dans la deuxième direction, des régions de lentille correspondant aux émetteurs sont différentes des positions, dans la deuxième direction, des émetteurs respectifs.
(JA) PIVにおいて、トレーサ粒子の影に起因して計測結果の精度が低下することを抑制可能な技術を提供する。 半導体レーザ光源装置は、第一の方向に並ぶ複数のエミッタを含む光源部と、複数のエミッタから射出されたレーザ光を第二の方向において平行に変換するレンズと、を有する。レンズは、複数のエミッタごとに、それぞれのエミッタから射出されたレーザ光を第二の方向において平行に変換する複数のレンズ領域を含む。複数のエミッタのうちの少なくとも二つのエミッタと、二つのエミッタに対応する二つのレンズ領域と、において、それぞれのエミッタの第二の方向における位置を基準としたとき、エミッタに対応するレンズ領域の第二の方向における位置が異なる。
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Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)
Also published as:
CN108604766