Search International and National Patent Collections
Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persists, please contact us atFeedback&Contact
1. (WO2017134908) SENSOR FAILURE DIAGNOSIS DEVICE, METHOD AND PROGRAM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/2017/134908 International Application No.: PCT/JP2016/085101
Publication Date: 10.08.2017 International Filing Date: 28.11.2016
IPC:
G05B 23/02 (2006.01)
G PHYSICS
05
CONTROLLING; REGULATING
B
CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
23
Testing or monitoring of control systems or parts thereof
02
Electric testing or monitoring
Applicants:
株式会社 東芝 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA [JP/JP]; 東京都港区芝浦一丁目1番1号 1-1, Shibaura 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058001, JP
Inventors:
森山 拓郎 MORIYAMA Takuro; JP
愛須 英之 AISU Hideyuki; JP
波田野 寿昭 HATANO Hisaaki; JP
Agent:
永井 浩之 NAGAI Hiroshi; JP
中村 行孝 NAKAMURA Yukitaka; JP
佐藤 泰和 SATO Yasukazu; JP
朝倉 悟 ASAKURA Satoru; JP
関根 毅 SEKINE Takeshi; JP
鈴木 順生 SUZUKI Nobuo; JP
Priority Data:
2016-02131005.02.2016JP
Title (EN) SENSOR FAILURE DIAGNOSIS DEVICE, METHOD AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF, PROCÉDÉ ET PROGRAMME DE DIAGNOSTIC DE DÉFAILLANCE DE CAPTEUR
(JA) センサ故障診断装置、方法、及びプログラム
Abstract:
(EN) [Problem] To provide a sensor failure diagnosis device, method and program that enable efficient inspection of a sensor. [Solution] A sensor failure diagnosis device according to one embodiment is provided with a drift estimation unit and a global rank determination unit. On the basis of the measured value data of each sensor included in a plurality of sensor groups including sensors to be subjected to inspection, the drift estimation unit estimates the presence or absence, or degree, of drift failure, which is a steady difference between measured values and true values for the sensors subjected to inspection. On the basis of the results from a plurality of estimations provided by the drift estimation unit, the global rank determination unit determines the global rank, which is the priority rank of the plurality of sensor groups, in the inspection.
(FR) L'invention concerne un dispositif, un procédé et un programme de diagnostic de défaillance de capteur qui permettent une inspection efficace d'un capteur. Le dispositif de diagnostic de défaillance de capteur selon un mode de réalisation de l'invention est doté d'une unité d'estimation de dérive et d'une unité de détermination de rang global. Sur la base des données de valeurs mesurées de chaque capteur comprises dans une pluralité de groupes de capteurs comprenant des capteurs devant être soumis à inspection, l'unité d'estimation de dérive estime la présence ou l'absence, ou le degré de défaillance de dérive, qui est une différence stable entre des valeurs mesurées et des valeurs réelles pour les capteurs soumis à inspection. Sur la base des résultats d'une pluralité d'estimations fournies par l'unité d'estimation de dérive, l'unité de détermination de rang global détermine le rang global, qui est le rang de priorité de la pluralité de groupes de capteurs lors de l'inspection.
(JA) 【課題】センサの効率的な点検作業を可能にするセンサ故障診断装置、方法、及びプログラムを提供する。 【解決手段】一実施形態に係るセンサ故障診断装置は、ドリフト推定部と、大域順位決定部と、を備える。ドリフト推定部は、点検作業の対象センサを含む複数のセンサ群に含まれる各センサの計測値データに基づいて、点検作業の対象センサについて、計測値と真値の定常的なずれであるドリフト故障の有無又は度合いを推定する。大域順位決定部は、ドリフト推定部の複数回の推定結果に基づいて、点検作業における、複数のセンサ群の間の優先順位である大域順位を決定する。
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)
Also published as:
EP3413152