Search International and National Patent Collections
Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persists, please contact us atFeedback&Contact
1. (WO2017134772) MANUFACTURING FACILITY DIAGNOSIS ASSISTANCE DEVICE AND MANUFACTURING FACILITY DIAGNOSIS ASSISTANCE METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/2017/134772 International Application No.: PCT/JP2016/053233
Publication Date: 10.08.2017 International Filing Date: 03.02.2016
IPC:
G05B 23/02 (2006.01)
G PHYSICS
05
CONTROLLING; REGULATING
B
CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
23
Testing or monitoring of control systems or parts thereof
02
Electric testing or monitoring
Applicants:
東芝三菱電機産業システム株式会社 TOSHIBA MITSUBISHI-ELECTRIC INDUSTRIAL SYSTEMS CORPORATION [JP/JP]; 東京都中央区京橋三丁目1番1号 3-1-1, Kyobashi, Chuo-ku, Tokyo 1040031, JP
Inventors:
手塚 知幸 TEZUKA, Tomoyuki; JP
Agent:
高田 守 TAKADA, Mamoru; JP
Priority Data:
Title (EN) MANUFACTURING FACILITY DIAGNOSIS ASSISTANCE DEVICE AND MANUFACTURING FACILITY DIAGNOSIS ASSISTANCE METHOD
(FR) DISPOSITIF D'ASSISTANCE AU DIAGNOSTIC D'INSTALLATION DE FABRICATION ET PROCÉDÉ D'ASSISTANCE AU DIAGNOSTIC D'INSTALLATION DE FABRICATION
(JA) 製造設備診断支援装置及び製造設備診断支援方法
Abstract:
(EN) A manufacturing facility diagnosis assistance device according to the present invention is connected to a data collection device that always or intermittently collects and records operation data of devices in a manufacturing facility in which at least two similar devices are installed, and assists an diagnosis of the manufacturing facility by analyzing the data recorded in the data collection device. The manufacturing facility diagnosis assistance device is provided with a function for extracting data to be used to make a diagnosis from the data recorded in the data collection device, a function for grouping the extracted data by the same kind of data of the similar devices, a function for calculating a feature amount for making a diagnosis in the group with respect to the grouped data, a function for storing the calculated feature amount in a storage device, and a function for comparing a newly calculated feature amount with the past feature amount stored in the storage device on a group basis and detecting an abnormality on the basis of the comparison result.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d'assistance au diagnostic d'installation de fabrication qui est connecté à un dispositif de collecte de données qui collecte et enregistre constamment ou par intermittence des données de fonctionnement des dispositifs dans une installation de fabrication dans laquelle sont installés au moins deux dispositifs similaires, et assiste à un diagnostic de l'installation de fabrication en analysant les données enregistrées dans le dispositif de collecte de données. Le dispositif d'assistance au diagnostic d'installation de fabrication est pourvu d'une fonction pour extraire les données à utiliser pour effectuer un diagnostic à partir des données enregistrées dans le dispositif de collecte de données, une fonction pour grouper les données extraites par le même type de données des dispositifs similaires, une fonction pour calculer une quantité caractéristique afin d'effectuer un diagnostic dans le groupe en considération des données groupées, une fonction pour stocker la quantité caractéristique calculée dans un dispositif de stockage, et une fonction pour comparer une quantité caractéristique nouvellement calculée avec la quantité caractéristique antérieure stockée dans le dispositif de stockage, pour chaque groupe, et détecter une anomalie en se basant sur le résultat de la comparaison.
(JA) 本発明に係る製造設備診断支援装置は、少なくとも2つ以上の類似した装置が設置される製造設備内の各装置の運転データを常時または間欠的に収集し記録するデータ収集装置に接続され、データ収集装置に記録されたデータを解析することにより製造設備の診断を支援する。この製造設備診断支援装置は、データ収集装置に記録されたデータから診断に用いるデータを抽出する機能、抽出されたデータを類似した装置の同種のデータごとにグループ分けする機能、グループ分けされたデータに対してグループ内で診断するための特徴量を演算する機能、演算された特徴量を記憶装置に記憶する機能、及び、新たに演算された特徴量と記憶装置に記憶された過去の特徴量とをグループ単位で比較し、その比較結果に基づいて異常を検知する機能を備える。
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)
Also published as:
KR1020180026495CN107949813