Search International and National Patent Collections
Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persists, please contact us atFeedback&Contact
1. (WO2017134710) MOLDED PRODUCT EXAMINATION DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/2017/134710 International Application No.: PCT/JP2016/004850
Publication Date: 10.08.2017 International Filing Date: 09.11.2016
IPC:
G01N 21/88 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible, or ultra-violet light
84
Systems specially adapted for particular applications
88
Investigating the presence of flaws, defects or contamination
Applicants:
株式会社ヒロテック HIROTEC CORPORATION [JP/JP]; 広島県広島市佐伯区石内南5丁目2番1号 5-2-1, Ishiuchiminami, Saeki-ku, Hiroshima-shi, Hiroshima 7315197, JP
Inventors:
原田 祐次 HARADA, Yuji; JP
小役丸 翔次 KOYAKUMARU, Shoji; JP
高橋 和良 TAKAHASHI, Kazuyoshi; JP
Agent:
特許業務法人前田特許事務所 MAEDA & PARTNERS; 大阪府大阪市北区堂島浜1丁目2番1号 新ダイビル23階 Shin-Daibiru Bldg. 23F, 2-1, Dojimahama 1-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300004, JP
Priority Data:
2016-01899003.02.2016JP
Title (EN) MOLDED PRODUCT EXAMINATION DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'EXAMEN DE PRODUIT MOULÉ
(JA) 成型品の検査装置
Abstract:
(EN) The present invention includes the following: light projecting devices 11-15 disposed so that examination light is projected onto a molded product; a projection screen 16 on which the molded product is projected using the examination light; an image pickup device 17 that picks up an image of the shadow of the molded product projected onto the projection screen 16; and a light blocking member 18. The present invention determines whether there is a defect in the molded product by comparing the image data picked up by the image pickup device 17 and the image data of the shadow of a defect-free molded product.
(FR) La présente invention comprend les éléments suivants : des dispositifs de projection de lumière 11-15 disposés de telle sorte qu'une lumière d'examen est projetée sur un produit moulé ; un écran de projection 16 sur lequel le produit moulé est projeté à l'aide de la lumière d'examen ; un dispositif de capture d'image 17 qui capture une image de l'ombre de l'objet moulé projeté sur l'écran de projection 16 ; et un élément de blocage de lumière 18. La présente invention détermine si un défaut est présent dans le produit moulé par comparaison des données d'image capturées par le dispositif de capture d'image 17 et des données d'image de l'ombre d'un produit moulé exempt de défaut.
(JA) 成型品に検査光を照射するように配置された投光装置11~15と、検査光によって成型品が投影される投影スクリーン16と、投影スクリーン16に投影されている成型品の影を撮像する撮像装置17と、遮光部材18とを有している。撮像装置17で撮像された画像データと、欠陥の無い成型品の影の画像データとを比較して成型品に欠陥が生じているか否かを判定する。
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)