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1. (WO2017133185) DATA ACQUISITION CHIP TEST SYSTEM AND DEVICE AND CONTROL METHOD THEREFOR
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/2017/133185 International Application No.: PCT/CN2016/089414
Publication Date: 10.08.2017 International Filing Date: 08.07.2016
IPC:
G06F 11/22 (2006.01) ,G01R 29/26 (2006.01)
G PHYSICS
06
COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
F
ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
11
Error detection; Error correction; Monitoring
22
Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
R
MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
29
Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/-G01R27/135
26
Measuring noise figure; Measuring signal-to-noise ratio
Applicants:
深圳市汇顶科技股份有限公司 SHENZHEN GOODIX TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; 中国广东省深圳市 福田区保税区腾飞工业大厦B座13层 Floor 13, Phase B, Tengfei Industrial Building Futian Freetrade Zone Shenzhen, Guangdong 518000, CN
Inventors:
覃伟和 QIN, Weihe; CN
管洲 GUAN, Zhou; CN
宋海宏 SONG, Haihong; CN
杨炼 YANG, Lian; CN
Agent:
北京龙双利达知识产权代理有限公司 LONGSUN LEAD IP LTD.; 中国北京市海淀区北清路68号院3号楼101 Rm.101, Building 3 No. 68 Beiqing Road, Haidian District Beijing 100094, CN
Priority Data:
201610074545.602.02.2016CN
Title (EN) DATA ACQUISITION CHIP TEST SYSTEM AND DEVICE AND CONTROL METHOD THEREFOR
(FR) SYSTÈME ET DISPOSITIF DE TEST DE PUCE D'ACQUISITION DE DONNÉES ET PROCÉDÉ DE COMMANDE POUR CEUX-CI
(ZH) 数据采集芯片的测试系统、装置及其控制方法
Abstract:
(EN) A data acquisition chip test device (10) and a control method therefor. The test device (10) comprises: a data acquisition module (200) for receiving a plurality of frames of sampling data acquired by a data acquisition chip; a storage module (300); a processing module (400) for calculating noise of a plurality of data sampling points to obtain a noise test result; a data transceiving module (500) for uploading the noise test result; and a control module (600). The test device (10) calculates noise of a plurality of data sampling points so as to only need to upload a noise test result, so that the chip test efficiency is improved, the chip test cost is reduced, and the test reliability is better ensured.
(FR) L'invention concerne un dispositif de test de puce d'acquisition de données (10) et un procédé de commande pour celui-ci. Le dispositif de test (10) comprend : un module d'acquisition de données (200) permettant de recevoir une pluralité de trames de données d'échantillonnage acquises par une puce d'acquisition de données ; un module de stockage (300) ; un module de traitement (400) permettant de calculer le bruit d'une pluralité de points d'échantillonnage de données pour obtenir un résultat de test de bruit ; un module d'émission-réception de données (500) permettant de télécharger en amont le résultat de test de bruit ; et un module de commande (600). Le dispositif de test (10) calcule le bruit d'une pluralité de points d'échantillonnage de données afin de n'avoir besoin que de télécharger en amont un résultat de test de bruit, de façon à améliorer l'efficacité de test de puce, réduire le coût de test de puce, et mieux assurer la fiabilité de test.
(ZH) 一种数据采集芯片的测试装置(10)及其控制方法,该测试装置(10)包括:接收数据采集芯片采集的多帧采样数据的数据采集模块(200);存储模块(300);计算多个数据采样点的噪声,以得到噪声测试结果的处理模块(400);将所述噪声测试结果上传的数据收发模块(500);控制模块(600)。该测试装置(10),通过计算多个数据采样点的噪声,从而只需上传噪声测试结果,提高了芯片测试的效率,降低了芯片测试的成本,更好地保证测试的可靠性。
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Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)
Also published as:
IN201727019817KR1020180025300