Search International and National Patent Collections
Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persists, please contact us atFeedback&Contact
1. (WO2017130477) DEFECT INSPECTION DEVICE, METHOD, AND PROGRAM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/2017/130477 International Application No.: PCT/JP2016/080855
Publication Date: 03.08.2017 International Filing Date: 18.10.2016
Chapter 2 Demand Filed: 17.02.2017
IPC:
G01N 21/88 (2006.01) ,G01B 11/30 (2006.01) ,G01B 15/00 (2006.01) ,G01N 21/84 (2006.01) ,G01N 23/04 (2006.01) ,G01N 23/18 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible, or ultra-violet light
84
Systems specially adapted for particular applications
88
Investigating the presence of flaws, defects or contamination
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
B
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11
Measuring arrangements characterised by the use of optical means
30
for measuring roughness or irregularity of surfaces
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
B
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
15
Measuring arrangements characterised by the use of wave or particle radiation
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible, or ultra-violet light
84
Systems specially adapted for particular applications
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23
Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation not covered by group G01N21/ or G01N22/159
02
by transmitting the radiation through the material
04
and forming a picture
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23
Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation not covered by group G01N21/ or G01N22/159
02
by transmitting the radiation through the material
06
and measuring the absorption
08
using electric detection means
18
Investigating the presence of flaws or inclusions
Applicants:
富士フイルム株式会社 FUJIFILM CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西麻布2丁目26番30号 26-30, Nishiazabu 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1068620, JP
Inventors:
金子 康彦 KANEKO Yasuhiko; JP
Agent:
中島 順子 NAKASHIMA Junko; JP
米倉 潤造 YONEKURA Junzo; JP
村上 泰規 MURAKAMI Yasunori; JP
Priority Data:
2016-01566629.01.2016JP
Title (EN) DEFECT INSPECTION DEVICE, METHOD, AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF, PROCÉDÉ ET PROGRAMME D'INSPECTION DE DÉFAUTS
(JA) 欠陥検査装置、方法およびプログラム
Abstract:
(EN) Provided are a defect inspection device, method, and program that make it possible for a radiographer to accurately and efficiently detect a defect when carrying out inspection for determining the presence or absence of a defect using an image of an industrial product to be inspected (object to be inspected). Images (defect candidate images D1-D3) indicating defect candidates detected by an image processing unit 22 are added to photographed image data IMG1. Histograms H1, H2 showing the number of defect candidates detected for each thickness and size are displayed so as to be aligned with sliders L1, L2. When an operation unit 14 is used to select defect types corresponding to check boxes CB1, a control unit 12 only displays defect candidate images for the selected defect types on the image IMG1 of the object to be inspected. When the operation unit 14 is used to operate the sliders L1, L2, only defect candidate images within the thickness range selected using slider L1 and within the size range selected using slider L2 are displayed, and defect candidate images outside of those ranges are removed.
(FR) L'invention concerne un dispositif, un procédé et un programme d'inspection de défauts qui permettent à un radiographe de détecter de manière précise et efficace un défaut lors de la réalisation d'une inspection visant à déterminer la présence ou l'absence d'un défaut à l'aide d'une image d'un produit industriel à inspecter (objet devant être inspecté). Des images (images de candidats défauts D1 à D3) indiquant les candidats défaut détectés par une unité de traitement d'image (22) sont ajoutées aux données d'image photographiée IMG1. Des histogrammes H1, H2 montrant le nombre de candidats défauts détectés pour chaque épaisseur et chaque taille sont affichées de manière à être alignés avec les curseurs L1, L2. Lorsqu'une unité d'actionnement (14) est utilisé pour sélectionner des types de défauts correspondant aux cases à cocher CB1, une unité de commande (12) affiche uniquement les images de candidats défauts pour les types de défauts sélectionnés sur l'image IMG1 de l'objet à inspecter. Lorsque l'unité d'actionnement (14) est utilisée pour faire fonctionner les curseurs L1, L2, seules les images de candidats défauts dans la plage d'épaisseur sélectionnée à l'aide du curseur L1 et à l'intérieur de la plage de tailles sélectionnée à l'aide du curseur L2 sont affichées, et les images de candidats défauts hors de ces plages sont retirées.
(JA) 検査対象の工業製品(被検査体)の画像を用いて欠陥の有無の検査を行う場合に、読影者が、欠陥を精度よく、効率的に検出できるようにする欠陥検査装置、方法およびプログラムを提供する。撮影画像データIMG1には、画像処理部22によって検出された欠陥候補を示す画像(欠陥候補画像D1~D3)が付されている。スライダーL1およびL2には、それぞれ肉厚およびサイズごとの欠陥候補の検出数を示すヒストグラムH1およびH2が並べて表示されている。チェックボックスCB1の欠陥の種類が操作部14により選択されると、制御部12は、選択された種類の欠陥候補画像のみを被検査体画像IMG1の上に表示する。操作部14によりスライダーL1、L2が操作されると、スライダーL1によって選択された肉厚の範囲内で、スライダーL2によって選択されたサイズの範囲内の欠陥候補画像のみが表示され、それぞれの範囲外の欠陥候補画像は消去される。
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)