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1. (WO2017098600) IONIZATION DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/2017/098600 International Application No.: PCT/JP2015/084505
Publication Date: 15.06.2017 International Filing Date: 09.12.2015
IPC:
H01J 49/10 (2006.01)
H ELECTRICITY
01
BASIC ELECTRIC ELEMENTS
J
ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49
Particle spectrometers or separator tubes
02
Details
10
Ion sources; Ion guns
Applicants:
株式会社日立製作所 HITACHI, LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目6番6号 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280, JP
Inventors:
石丸 真子 ISHIMARU Masako; JP
釜堀 政男 KAMAHORI Masao; JP
杉山 益之 SUGIYAMA Masuyuki; JP
西村 和茂 NISHIMURA Kazushige; JP
佐竹 宏之 SATAKE Hiroyuki; JP
長谷川 英樹 HASEGAWA Hideki; JP
Agent:
平木 祐輔 HIRAKI Yusuke; JP
Priority Data:
Title (EN) IONIZATION DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'IONISATION
(JA) イオン化装置
Abstract:
(EN) The objective of the invention is to achieve highly sensitive mass spectrometry by improving the efficiency of solvent removal during electrospray ionization or the like. The invention comprises a light-guide path (28) wherein light from a light source is guided and irradiated onto a sample microparticle generated by an atomization device. A nearest-neighbor distance (d2) between a spatial range (34) where the sample microparticle is present and a front end (29) of the light-guide path is between 0.1 mm and 20 mm inclusive. A nearest-neighbor distance (d1) between a light irradiation range (35) yielded by the light-guide path and any nearest neighbor among a sample surface, the atomization device and a sample holding part is between 0.01 mm and 10 mm inclusive.
(FR) La présente invention vise à atteindre une spectrométrie de masse hautement sensible en améliorant le rendement d'élimination de solvant pendant une ionisation par électronébulisation ou analogue. La présente invention comprend un trajet de guidage de lumière (28) dans lequel une lumière provenant d'une source lumineuse est guidée et irradiée sur des microparticules d'échantillon générées par un dispositif d'atomisation. Une distance à voisin le plus proche (d2) entre une plage spatiale (34) où les microparticules d'échantillon sont présentes et une extrémité avant (29) du trajet de guidage de lumière est comprise entre 0,1 mm et 20 mm inclus. Une distance à voisin le plus proche (d1) entre une plage d'irradiation de lumière (35) produite par le trajet de guidage de lumière et un quelconque voisin le plus proche parmi une surface d'échantillon, le dispositif d'atomisation et une partie porte-échantillon est comprise entre 0,01 mm et 10 mm inclus.
(JA) エレクトロスプレーイオン化等における脱溶媒効率向上により高感度な質量分析を実現するために、光源の光を微粒子化装置によって発生された試料微粒子に導き照射する導光路(28)を備え、試料微粒子が存在する空間範囲(34)と導光路の先端(29)との最近接距離(d2)が0.1mm以上20mm以下とし、導光路による光の照射範囲(35)と、試料の表面、微粒子化装置、試料保持部のいずれか最も近いものとの最近接距離(d1)を0.01mm以上10mm以下とする。
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)
Also published as:
US20180284083