Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persists, please contact us atFeedback&Contact
1. (WO2017094555) METHOD FOR TESTING LED BACKLIGHT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/2017/094555 International Application No.: PCT/JP2016/084540
Publication Date: 08.06.2017 International Filing Date: 22.11.2016
IPC:
H05B 37/03 (2006.01)
H ELECTRICITY
05
ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
B
ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
37
Circuit arrangements for electric light sources in general
03
Detecting lamp failure
Applicants:
シャープ株式会社 SHARP KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 大阪府堺市堺区匠町1番地 1, Takumi-cho, Sakai-ku, Sakai City, Osaka 5908522, JP
Inventors:
三好 隆一 MIYOSHI, Ryuhichi; --
Agent:
島田 明宏 SHIMADA, Akihiro; JP
Priority Data:
2015-23268230.11.2015JP
Title (EN) METHOD FOR TESTING LED BACKLIGHT
(FR) PROCÉDÉ D'ÉVALUATION D'UN RÉTROÉCLAIRAGE À DEL
(JA) LEDバックライトの検査方法
Abstract:
(EN) The present invention tests an LED backlight (15) that has a plurality of LED groups (19), said LED groups (19) each including a plurality of serially connected LEDs (17). The LED groups (19a-19c) are each driven with a constant current, and the respective operating voltages (Vf1-Vf3) of the LED groups (19a-19c) are measured. If the differences between the operating voltages (Vf1-Vf3) are all less than a reference value, the LED backlight (15) is determined to be functioning properly; otherwise, the LED backlight (15) is determined to be malfunctioning. Open circuit defects and short circuit defects of the LEDs (17) are thus detected. Leak defects of the LEDs (17) can be detected by switching the magnitude of the drive current that is used for constant current driving to a minute current. The LED backlight is thus easily and reliably tested.
(FR) La présente invention évalue un rétroéclairage à DEL (15) présentant une pluralité de groupes de DEL (19), lesdits groupes de DEL (19) comprenant chacun une pluralité de DEL connectées en série (17). Les groupes de DEL (19a à 19c) sont chacun excités par un courant constant, et les tensions de service (Vf1 à Vf3) respectives des groupes de DEL (19a à 19c) sont mesurées. Si les différences entre les tensions de service (Vf1 à Vf3) sont toutes inférieures à une valeur de référence, le rétroéclairage à DEL (15) est déterminé comme fonctionnant correctement; sinon, le rétroéclairage à DEL (15) est déterminé comme étant défaillant. Des défauts de circuit ouvert et des défauts de court-circuit des DEL (17) sont ainsi détectés. Des défauts de fuite des DEL (17) peuvent être détectés en faisant basculer l'intensité du courant d'attaque qui est utilisé pour l'attaque par un courant constant vers un courant très faible. Le rétroéclairage à DEL est ainsi évalué de manière simple et fiable.
(JA) 直列接続された複数のLED(17)を含むLED群(19)を複数有するLEDバックライト(15)を検査する。LED群(19a~19c)をそれぞれ定電流駆動し、LED群(19a~19c)の動作電圧(Vf1~Vf3)をそれぞれ測定する。動作電圧(Vf1~Vf3)の差がすべて基準値未満の場合にはLEDバックライト(15)は正常であると判定し、それ以外の場合にはLEDバックライト(15)は異常であると判定する。これにより、LED(17)のオープン不良とショート不良を検出する。定電流駆動で使用する駆動電流の量を微小電流に切り替えて、LED(17)のリーク不良を検出してもよい。このようにしてLEDバックライトを確実かつ容易に検査する。
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)
Also published as:
US20190059145