Search International and National Patent Collections
Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persists, please contact us atFeedback&Contact
1. (WO2017094184) SCANNING MICROSCOPE AND MICROSCOPE IMAGE ACQUISITION METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/2017/094184 International Application No.: PCT/JP2015/084143
Publication Date: 08.06.2017 International Filing Date: 04.12.2015
IPC:
G02B 21/00 (2006.01) ,G01N 21/64 (2006.01)
G PHYSICS
02
OPTICS
B
OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21
Microscopes
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible, or ultra-violet light
62
Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63
optically excited
64
Fluorescence; Phosphorescence
Applicants:
オリンパス株式会社 OLYMPUS CORPORATION [JP/JP]; 東京都渋谷区幡ヶ谷2丁目43番2号 43-2, Hatagaya 2-chome, Shibuya-ku, Tokyo 1510072, JP
Inventors:
土井 厚志 DOI, Atsushi; JP
Agent:
上田 邦生 UEDA, Kunio; JP
Priority Data:
Title (EN) SCANNING MICROSCOPE AND MICROSCOPE IMAGE ACQUISITION METHOD
(FR) MICROSCOPE À BALAYAGE ET PROCÉDÉ D'ACQUISITION D'IMAGE DE MICROSCOPE
(JA) 走査型顕微鏡および顕微鏡画像取得方法
Abstract:
(EN) The purpose of the present invention is to acquire an image having an emphasized high-frequency component by applying SIM without using a camera. A scanning microscope (1) is provided with an illumination unit (2) and a detection unit (3), wherein the illumination unit (2) is provided with a light beam generation unit (4) which generates a plurality of illumination light beams, a scan unit (5) which scans such that spatial overlapping of the plurality of illumination light beams generated from the light beam generation unit (4) periodically changes depending on the position of a sample (S), and an objective lens (6) which concentrates the illumination light beams scanned by the scan unit (5) onto the sample (S), and the detection unit (3) is provided with a light receiving unit (7) which detects signal light generated at a position of spatial overlapping of the illumination light beams within the sample (S) by irradiation with the illumination light beams at each position of the sample (S), and a processing unit (8) which reconstructs a signal detected by the light receiving unit (7) to generate an image of the sample (S).
(FR) La présente invention vise à acquérir une image ayant une composante haute fréquence accentuée par application de SIM sans utiliser de caméra. Un microscope à balayage (1) comporte une unité d'éclairage (2) et une unité de détection (3), l'unité d'éclairage (2) comprenant une unité de production de faisceau de lumière (4) qui produit une pluralité de faisceaux de lumière d'éclairage, une unité de balayage (5) qui effectue un balayage, de sorte que le chevauchement spatial de la pluralité de faisceaux de lumière d'éclairage produits par l'unité de production de faisceau de lumière (4) change périodiquement en fonction de la position d'un échantillon (S), ainsi qu'une lentille d'objectif (6) qui concentre les faisceaux de lumière d'éclairage balayés par l'unité de balayage (5) sur l'échantillon (S) et l'unité de détection (3) comprend une unité de réception de lumière (7) qui détecte la lumière de signal produite au niveau d'une position de chevauchement spatial des faisceaux de lumière d'éclairage dans l'échantillon (S) par irradiation avec les faisceaux de lumière d'éclairage à chaque position de l'échantillon (S) et une unité de traitement (8) qui reconstruit un signal détecté par l'unité de réception de lumière (7) afin de produire une image de l'échantillon (S).
(JA) カメラを用いることなくSIMを適用して高周波成分を強調した画像を取得することを目的として、走査型顕微鏡(1)は、照明部(2)と、検出部(3)とを備え、照明部(2)が、複数の照明光を発生する光発生部(4)と、該光発生部(4)から発せられた複数の照明光の空間的重なりが試料(S)の位置によって周期的に変化するように走査する走査部(5)と、該走査部(5)により走査された照明光を試料(S)に集光する対物レンズ(6)とを備え、検出部(3)が、照明光の照射によって、試料(S)内の照明光の空間的重なり位置で発生した信号光を試料(S)の位置毎に検出する受光部(7)と、該受光部(7)により検出した信号を再構成して試料(S)の画像を生成する処理部(8)とを備える。
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)