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1. (WO2017090779) SPECIMEN ANALYSIS DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/2017/090779 International Application No.: PCT/JP2016/085993
Publication Date: 01.06.2017 International Filing Date: 25.11.2016
IPC:
G01N 35/02 (2006.01) ,G01N 35/00 (2006.01) ,G01N 35/10 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35
Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/-G01N33/148; Handling materials therefor
02
using a plurality of sample containers moved by a conveyer system past one or more treatment or analysis stations
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35
Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/-G01N33/148; Handling materials therefor
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35
Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/-G01N33/148; Handling materials therefor
10
Devices for transferring samples to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
Applicants:
シスメックス株式会社 SYSMEX CORPORATION [JP/JP]; 兵庫県神戸市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号 5-1, Wakinohama-Kaigandori 1-chome, Chuo-ku, Kobe-shi, Hyogo 6510073, JP
Inventors:
勝見 宏則 KATSUMI, Hironori; JP
齊藤 直介   SAITO, Shunsuke; JP
小田 浩平 ODA, Kohei; JP
Agent:
大坂 雅浩 OSAKA, Masahiro; 大阪府大阪市北区南森町2丁目1-20 南森町エンシンビル801 801 Minamimorimachi Enshin Bldg., 1-20, Minamimorimachi 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300054, JP
Priority Data:
2015-23237427.11.2015JP
Title (EN) SPECIMEN ANALYSIS DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE D'ÉCHANTILLONS
(JA) 検体分析装置
Abstract:
(EN) Provided is a specimen analysis device wherein an increase in an installation area for the specimen analysis device is restricted and preparation work is simplified while maintaining high specimen processing capability. The specimen analysis device (10) comprises: a first reagent pipetting unit (12) that suctions a reagent from a first suction position (23a); a second reagent pipetting unit (13) that suctions a reagent from a second suction position (23b); a first detecting unit (14) that measures a measurement sample including the reagent pipetted by the first reagent pipetting unit (12) and a specimen; a second detecting unit (15) that measures a measurement sample including the reagent pipetted by the second reagent pipetting unit (13) and the specimen; and a control unit (26) that controls a reagent table (23) so that the reagent related to a measurement item set so as to use the first reagent pipetting unit (12) is transferred to the first suction position (23a), and the reagent related to a measurement item set so as to use the second reagent pipetting unit (13) is transferred to the second suction position (23b).
(FR) L'invention concerne un dispositif d'analyse d'échantillons dans lequel une augmentation d'une surface d'installation du dispositif d'analyse d'échantillons est restreinte et un travail de préparation est simplifié tout en maintenant une capacité élevée de traitement d'échantillons. Le dispositif d'analyse d'échantillons (10) comprend : une première unité de pipettage de réactif (12) qui aspire un réactif à partir d'une première position d'aspiration (23a) ; une seconde unité de pipettage de réactif (13) qui aspire un réactif à partir d'une seconde position d'aspiration (23b) ; une première unité de détection (14) qui mesure un échantillon de mesure comprenant le réactif pipeté par la première unité de pipettage de réactif (12) et un échantillon ; une seconde unité de détection (15) qui mesure un échantillon de mesure comprenant le réactif pipeté par la seconde unité de pipettage de réactif (13) et l'échantillon ; et une unité de commande (26) qui commande une table de réactif (23) afin que le réactif associé à un élément de mesure défini pour utiliser la première unité de pipettage de réactif (12) est transféré vers la première position d'aspiration (23a), et que le réactif associé à un élément de mesure défini pour utiliser la seconde unité de pipettage de réactif (13) est transféré vers la seconde position d'aspiration (23b).
(JA) 検体の処理能力を高く維持しながら、検体分析装置の設置面積の増大を抑制でき、さらに準備作業を簡素化できる検体分析装置を提供する。検体分析装置(10)は、第1吸引位置(23a)から試薬を吸引する第1試薬分注部(12)と、第2吸引位置(23b)から試薬を吸引する第2試薬分注部(13)と、第1試薬分注部(12)により分注された試薬と検体とを含む測定試料を測定する第1検出ユニット(14)と、第2試薬分注部(13)により分注された試薬と検体とを含む測定試料を測定する第2検出ユニット(15)と、第1試薬分注部(12)を使用するように設定された測定項目に関する試薬を第1吸引位置(23a)に移送し、第2試薬分注部(13)を使用するように設定された測定項目に関する試薬を第2吸引位置(23b)に移送するように試薬テーブル(23)を制御する制御部(26)と、を備える。
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Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)
Also published as:
CN108291922US20180267069EP3382396