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1. (WO2017066489) TESTING SYSTEM FOR TRAVELING WAVE FAULT DETECTORS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2017/066489    International Application No.:    PCT/US2016/056911
Publication Date: 20.04.2017 International Filing Date: 13.10.2016
IPC:
H02H 7/26 (2006.01), G06F 11/273 (2006.01), G06F 11/277 (2006.01), H02H 3/26 (2006.01), H02H 3/28 (2006.01)
Applicants: SCHWEITZER ENGINEERING LABORATORIES, INC. [US/US]; 2350 NE Hopkins Court Pullman, Washington 99163 (US)
Inventors: WHITEHEAD, David E.; (US).
LEE, Tony J.; (US).
SHEFFIELD, Zachary King; (US).
WINDLEY, Tracey G; (US)
Agent: EDGE, Richard M.; (US)
Priority Data:
62/240,608 13.10.2015 US
Title (EN) TESTING SYSTEM FOR TRAVELING WAVE FAULT DETECTORS
(FR) SYSTÈME D'ESSAI POUR DÉTECTEURS DE DÉFAUTS À ONDES PROGRESSIVES
Abstract: front page image
(EN)A testing apparatus for imposing a traveling wave signal on an electric system signal for testing a fault detector is disclosed herein. The fault detector may be configured to simulate a fault at a particular location by controlling the timing of the traveling wave signal. The testing apparatus may be configured to impose multiple traveling wave signals to test the accuracy of the fault location determined by the fault detector. The testing apparatus may be configured to determine the calculation accuracy of the fault detector. The testing apparatus may impose a traveling wave signal on a signal simulating an electrical signal on an electric power delivery system. The testing apparatus may be used to test capabilities of a fault detector of detecting a fault using traveling waves or incremental quantities.
(FR)La présente invention porte sur un appareil d'essai qui impose un signal à ondes progressives sur un signal de système électrique pour tester un détecteur de défaut. Le détecteur de défaut peut être conçu pour simuler un défaut au niveau d'un emplacement particulier par commande de la synchronisation du signal à ondes progressives. L'appareil d'essai peut être conçu pour imposer de multiples signaux à ondes progressives pour tester la précision de l'emplacement de défaut déterminé par le détecteur de défaut. L'appareil d'essai peut être conçu pour déterminer la précision de calcul du détecteur de défaut. L'appareil d'essai peut imposer un signal à ondes progressives sur un signal simulant un signal électrique sur un système de distribution d'énergie électrique. L'appareil d'essai peut servir à tester des capacités d'un détecteur de défaut à détecter un défaut à l'aide d'ondes progressives ou de quantités incrémentielles.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)