WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2017066332) AMORPHOUS METAL THIN FILM NONLINEAR RESISTOR
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2017/066332    International Application No.:    PCT/US2016/056653
Publication Date: 20.04.2017 International Filing Date: 12.10.2016
IPC:
H01L 21/768 (2006.01), H01L 21/3205 (2006.01), H01L 21/02 (2006.01)
Applicants: AMORPHYX, INC. [US/US]; 508 SW Jefferson Ave. Corvallis, Oregon 97333 (US)
Inventors: MUIR, Sean, William; (US)
Agent: TALBERT, Hayley, J.; (US).
OBEIDAT, Baha, A.; (US).
KUMABE, Blake, K.; (US).
SOLTANI, Bobby, B.; (US).
SARGEANT, Brooke; (US).
QUIST, Brooke, W.; (US).
ROTH, Carol, J.; (US).
O'BRIEN, Daniel; (US).
CARLSON, David, V.; (US).
STARK, Duncan; (US).
TARLETON, E., Russell; (US).
SUN, Eileen, S.; (US).
HARWOOD, Eric, A.; (US).
ABRAMONTE, Frank; (US).
HAN, Hai; (US).
WHITE, James, A. D.; (US).
BARRETT, Jared, M.; (US).
PEPE, Jeffrey, C.; (US).
DANLEY, Jeffrey, E.; (US).
SAKOI, Jeffrey, M.; (US).
BAUNACH, Jeremiah, J.; (US).
KARLEN, John, R.; (US).
MORGAN, John, A.; (US).
WAKELEY, John, J.; (US).
COE, Justin, E.; (US).
HENCKEL, Karen, M.; (US).
HEFTER, Karl, A.; (US).
HERMANNS, Karl, R.; (US).
MORGAN, Kevan, L.; (US).
COSTANZA, Kevin, S.; (US).
LINFORD, Lorraine; (US).
COOPER, Michael, P.; (US).
RUSYN, Paul; (US).
LIN, Qing; (US).
HALLER, Rachel, A.; (US).
IANNUCCI, Robert; (US).
KOVELMAN, Robert, L.; (US).
WEBB, Samuel, E.; (US).
LEEK, Shoko, I.; (US).
ROSENMAN, Stephen, J.; (US).
ABEDI, Syed; (US).
SATAGAJ, Thomas, J.; (US).
BOLLER, Timothy, L.; (US).
FERRON, William, O., Jr.; (US)
Priority Data:
62/241,038 13.10.2015 US
Title (EN) AMORPHOUS METAL THIN FILM NONLINEAR RESISTOR
(FR) RÉSISTANCE NON LINÉAIRE À FILM MINCE MÉTALLIQUE AMORPHE
Abstract: front page image
(EN)Amorphous multi-component metallic films can be used to improve the performance of electronic components such as resistors, diodes, and thin film transistors. Interfacial properties of AMMFs are superior to those of crystalline metal films, and therefore electric fields at the interface of an AMMF and an oxide film are more uniform. An AMMF resistor (AMNR) can be constructed as a three-layer structure including an amorphous metal, a tunneling insulator, and a crystalline metal layer. By modifying the order of the materials, the patterns of the electrodes, and the size and number of overlap areas, the I-V performance characteristics of the AMNR are adjusted. A non-coplanar AMNR has a five-layer structure that includes three metal layers separated by metal oxide tunneling insulator layers, wherein an amorphous metal thin film material is used to fabricate the middle electrodes.
(FR)L'invention concerne des films métalliques multicomposants amorphes (AMMF) qui peuvent être utilisés pour améliorer les performances de composants électroniques tels que des résistances, des diodes et des transistors à couches minces. Les propriétés interfaciales des AMMF sont supérieures à celles de films métalliques cristallins, et par conséquent, les champs électriques au niveau de l'interface d'un AMMF et d'un film d'oxyde sont plus uniformes. Une résistance à AMMF (AMNR) peut être construite sous la forme d'une structure à trois couches comprenant un métal amorphe, un isolant tunnel et une couche métallique cristalline. Les caractéristiques de performances I-V de l'AMNR peuvent être réglées par modification de l'ordre des matériaux, des motifs des électrodes, et de la taille et du nombre de zones de chevauchement. Une AMNR non coplanaire présente une structure à cinq couches qui comprend au moins trois couches métalliques séparées par des couches d'isolant tunnel en oxyde métallique, un matériau de film mince métallique amorphe étant utilisé pour fabriquer les électrodes intermédiaires.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)