WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2017064855) STRUCTURAL ABNORMALITY DETECTING SYSTEM, STRUCTURAL ABNORMALITY DETECTING METHOD, AND RECORDING MEDIUM RECORDING SAME
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2017/064855    International Application No.:    PCT/JP2016/004525
Publication Date: 20.04.2017 International Filing Date: 07.10.2016
IPC:
G01M 99/00 (2011.01)
Applicants: NEC CORPORATION [JP/JP]; 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001 (JP)
Inventors: MASE, Ryota; (JP).
OCHIAI, Katsuhiro; (JP)
Agent: OKABE, Yuzuru; (JP).
USUI, Shinichi; (JP).
OCHI, Takao; (JP).
YOSHIZAWA, Hiroshi; (JP).
OKABE, Yoh; (JP)
Priority Data:
2015-202076 13.10.2015 JP
Title (EN) STRUCTURAL ABNORMALITY DETECTING SYSTEM, STRUCTURAL ABNORMALITY DETECTING METHOD, AND RECORDING MEDIUM RECORDING SAME
(FR) SYSTÈME DE DÉTECTION D'ANOMALIE STRUCTURELLE, PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'ANOMALIE STRUCTURELLE, ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT ENREGISTRANT CE DERNIER
(JA) 構造物異常検知システム、構造物異常検知方法及び記録した記録媒体
Abstract: front page image
(EN)A structural abnormality detecting system for detecting an abnormality in at least one structure divided into a plurality of groups in which a plurality of factors capable of affecting behavior of a structure are equivalent, comprising: a means for storing a model that predicts, from a first inspection value obtained at a first inspection position, a second inspection value obtained at a second inspection position that is a position at which the vibration strength during vibration in a predetermined vibrational mode in the natural frequency of the structure is equivalent to that at the first inspection position; and a means for detecting an abnormality in the structure by evaluating the goodness of fit with respect to the model of the first inspection value and the second inspection value at a specified time.
(FR)L'invention concerne un système de détection d'anomalie structurelle destiné à détecter une anomalie dans au moins une structure divisée en une pluralité de groupes dans lesquels une pluralité de facteurs pouvant affecter le comportement d'une structure sont équivalents, comprenant : un moyen destiné à stocker un modèle qui prédit, à partir d'une première valeur d'inspection obtenue à une première position d'inspection, une seconde valeur d'inspection obtenue à une seconde position d'inspection qui est une position à laquelle l'intensité de vibration pendant les vibrations dans un mode vibratoire prédéterminé à la fréquence propre de la structure est équivalente à celle qui se produit à la première position d'inspection; et un moyen destiné à détecter une anomalie dans la structure par évaluation de la qualité de l'ajustement par rapport au modèle de la première valeur d'inspection et de la seconde valeur d'inspection à un instant spécifié.
(JA)構造物の挙動に影響を与えうる複数の要因が同程度である複数のグループに分けられた少なくとも一つの構造物の異常を検知する構造物異常検知システムであって、第1の検査位置で取得される第1の検査値から、構造物の固有振動数における、所定の振動モードでの振動時の振動強度が第1の検査位置と同程度となる位置である第2の検査位置で取得される第2の検査値を予測するモデルを記憶する手段と、特定時刻において取得した第1の検査値と第2の検査値の、前記モデルに対する適合度を評価することで、前記構造物の異常を検知する手段と、を備える。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)