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1. (WO2017064854) STRUCTURE ABNORMALITY DETECTION DEVICE, STRUCTURE ABNORMALITY DETECTION METHOD, RECORDING MEDIUM, AND STRUCTURE ABNORMALITY DETECTION SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2017/064854    International Application No.:    PCT/JP2016/004524
Publication Date: 20.04.2017 International Filing Date: 07.10.2016
IPC:
G01M 99/00 (2011.01)
Applicants: NEC CORPORATION [JP/JP]; 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001 (JP)
Inventors: MASE, Ryota; (JP).
KASAHARA, Shinji; (JP).
OCHIAI, Katsuhiro; (JP)
Agent: OKABE, Yuzuru; (JP).
USUI, Shinichi; (JP).
OCHI, Takao; (JP).
YOSHIZAWA, Hiroshi; (JP).
OKABE, Yoh; (JP)
Priority Data:
2015-202075 13.10.2015 JP
Title (EN) STRUCTURE ABNORMALITY DETECTION DEVICE, STRUCTURE ABNORMALITY DETECTION METHOD, RECORDING MEDIUM, AND STRUCTURE ABNORMALITY DETECTION SYSTEM
(FR) DISPOSITIF DE DÉTECTION D'ANOMALIE DE STRUCTURE, PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'ANOMALIE DE STRUCTURE, SUPPORT D'ENREGISTREMENT, ET SYSTÈME DE DÉTECTION D'ANOMALIE DE STRUCTURE
(JA) 構造物異常検知装置、構造物異常検知方法、記録媒体及び構造物異常検知システム
Abstract: front page image
(EN)A structure abnormality detection device for detecting an abnormality of a structure, said structure abnormality detection device including a means for storing a model for predicting, from a first inspection value acquired at a first inspection position, a second inspection value acquired at a second inspection position that is a position having roughly the same vibration intensity as the first inspection position during vibration in a prescribed vibration mode at the natural frequency of the structure and a means for detecting an abnormality of the structure by evaluating how well a first inspection value and second inspection value acquired at a specific time fit the model.
(FR)L'invention concerne un dispositif de détection d'anomalie de structure pour détecter une anomalie d'une structure, ledit dispositif de détection d'anomalie de structure comprenant un moyen pour mémoriser un modèle permettant de prédire, à partir d'une première valeur d'inspection acquise au niveau d'une première position d'inspection, une seconde valeur d'inspection acquise au niveau d'une seconde position d'inspection qui est une position ayant approximativement la même intensité de vibration que la première position d'inspection pendant une vibration dans un mode de vibration prescrit à la fréquence naturelle de la structure, et un moyen pour détecter une anomalie de la structure en évaluant dans quelle mesure une première valeur d'inspection et une seconde valeur d'inspection acquises à un instant spécifique correspondent au modèle.
(JA)構造物の異常を検知する構造物異常検知装置であって、第1の検査位置で取得される第1の検査値から、前記構造物の固有振動数における、所定の振動モードでの振動時の振動強度が第1の検査位置と同程度となる位置である第2の検査位置で取得される第2の検査値を予測するモデルを記憶する手段と、特定時刻において取得した前記第1の検査値と前記第2の検査値の、前記モデルに対する適合度を評価することで、前記構造物の異常を検知する手段とを含む。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)