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1. (WO2017064181) CALIBRATION ARRANGEMENT, OPTICAL SENSOR ARRANGEMENT, AND METHOD FOR ASSEMBLY LINE IN-SITU CALIBRATION OF AN OPTICAL DEVICE COMPRISING AN OPTICAL SENSOR
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2017/064181    International Application No.:    PCT/EP2016/074581
Publication Date: 20.04.2017 International Filing Date: 13.10.2016
Chapter 2 Demand Filed:    14.08.2017    
IPC:
G01J 1/08 (2006.01), G01J 1/42 (2006.01), G01D 18/00 (2006.01)
Applicants: AMS AG [AT/AT]; Schloss Premstätten Tobelbader Str. 30 8141 Unterpremstätten (AT)
Inventors: MEHRL, David; (US)
Agent: EPPING HERMANN FISCHER PATENTANWALTSGESELLSCHAFT MBH; Schlossschmidstr. 5 80639 München (DE)
Priority Data:
62/241,452 14.10.2015 US
15197602.4 02.12.2015 EP
Title (EN) CALIBRATION ARRANGEMENT, OPTICAL SENSOR ARRANGEMENT, AND METHOD FOR ASSEMBLY LINE IN-SITU CALIBRATION OF AN OPTICAL DEVICE COMPRISING AN OPTICAL SENSOR
(FR) SYSTÈME D'ÉTALONNAGE, SYSTÈME DE CAPTEUR OPTIQUE ET PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE SUR SITE DE CHAÎNE DE MONTAGE D'UN DISPOSITIF OPTIQUE COMPRENANT UN CAPTEUR OPTIQUE
Abstract: front page image
(EN)An assembly line in-situ calibration arrangement, optical sensor arrangement and a method for calibration of an optical sensor arrangement are presented. A calibration arrangement (1) comprises a calibration head (10) comprising at least one calibrated light source (17R, 17G, 17B) located behind an aperture in a housing (11) and being electrically connected to a power terminal. A power source (30) is connected to the power terminal, the power source (30) comprising a switching unit (32R, 32G, 32B, 32C) electrically connected to the at least one light source (17R, 17G, 17B). An interface unit (40) is connected to the switching unit (32R, 32G, 32B, 32C) by means of an interface connection (41), wherein the interface unit (40) is arranged to control the switching unit (32R, 32G, 32B, 32C). A control unit (50) is connected to the interface unit (40), wherein the control unit (50) is arranged to drive the interface unit (40) such that the at least one light source (17R, 17G, 17B) is switched to emit a calibration pulse sequence to be received by the optical sensor arrangement (2) to be placed with respect of the aperture. The calibration pulse sequence is arranged to initiate a calibration mode of operation of the optical sensor arrangement (2).
(FR)La présente invention concerne un système d'étalonnage sur site de chaîne de montage, un système de capteur optique et un procédé d'étalonnage d'un système de capteur optique. Le système d'étalonnage (1) comprend une tête d'étalonnage (10) comprenant au moins une source lumineuse étalonnée (17R, 17G, 17B) située derrière une ouverture dans un boîtier (11) et étant connectée électriquement à une borne d'alimentation. Une source d'alimentation (30) est connectée à la borne d'alimentation, la source d'alimentation (30) comprenant une unité de commutation (32R, 32G, 32B, 32C) connectée électriquement à la au moins une source lumineuse (17R, 17G, 17B). Une unité d'interface (40) est connectée à l'unité de commutation (32R, 32G, 32B, 32C) au moyen d'une connexion d'interface (41), l'unité d'interface (40) étant conçue pour commander l'unité de commutation (32R, 32G, 32B, 32C). Une unité de commande (50) est connectée à l'unité d'interface (40), l'unité de commande (50) étant conçue pour commander l'unité d'interface (40) de sorte que la au moins une source lumineuse (17R, 17G, 17B) soit commutée pour émettre une séquence d'impulsions d'étalonnage devant être reçue par le système (2) de capteur optique pour être placé par rapport à l'ouverture. La séquence d'impulsions d'étalonnage est conçue pour lancer un mode de fonctionnement d'étalonnage du système (2) de capteur optique.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)