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1. (WO2017063709) VACUUM SYSTEM CALIBRATION
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2017/063709    International Application No.:    PCT/EP2015/073933
Publication Date: 20.04.2017 International Filing Date: 15.10.2015
IPC:
B41J 11/00 (2006.01), B65H 5/22 (2006.01)
Applicants: HEWLETT-PACKARD DEVELOPMENT COMPANY, L.P. [US/US]; 11445 Compaq Centre Drive W Houston, Texas 77070 (US).
ARREDONDO, Alberto [ES/ES]; (ES) (US only).
MARTIN, Eduardo [ES/ES]; (ES) (US only).
SANCHIS, Ricardo [ES/ES]; (ES) (US only)
Inventors: ARREDONDO, Alberto; (ES).
MARTIN, Eduardo; (ES).
SANCHIS, Ricardo; (ES)
Agent: HUFTON, David; (GB)
Priority Data:
Title (EN) VACUUM SYSTEM CALIBRATION
(FR) ÉTALONNAGE DE SYSTÈME DE VIDE
Abstract: front page image
(EN)A method and apparatus for calibrating a vacuum system (101) in a printing device comprising obtaining a reference pressure value (P ref) for a print zone (104) of the printing device, measuring a calibration pressure value (P cal) in the print zone of the printing device when the printing device is at an operating location and the vacuum system is in operation, determining an altitude based on the reference pressure value and the calibration pressure value and applying an operating setting to the vacuum system based on the determined altitude.
(FR)L'invention concerne un procédé et un appareil pour l'étalonnage d'un système de vide (101) dans un dispositif d'impression, consistant à obtenir une valeur de pression de référence (P ref) pour une zone d'impression (104) du dispositif d'impression, mesurer une valeur de pression d'étalonnage (P cal) dans la zone d'impression du dispositif d'impression lorsque le dispositif d'impression se trouve à un emplacement de fonctionnement et le système de vide fonctionne, déterminer une altitude sur la base de la valeur de pression de référence et de la valeur de pression d'étalonnage, et appliquer un réglage de fonctionnement au système de vide sur la base de l'altitude déterminée.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)