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1. (WO2017063386) PRECISION CALIBRATION METHOD FOR ATTITUDE MEASUREMENT SYSTEM
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Pub. No.: WO/2017/063386 International Application No.: PCT/CN2016/088303
Publication Date: 20.04.2017 International Filing Date: 04.07.2016
IPC:
G01C 17/00 (2006.01) ,G01C 17/38 (2006.01)
Applicants: SHANGHAI HUACE NAVIGATION TECHNOLOGY LTD.[CN/CN]; TU, Rui Building C, 599 Gaojing Road, Xujing Town, Qingpu District Shanghai 201702, CN
Inventors: TU, Rui; CN
SHEN, Xuefeng; CN
ZHAO, Wenlong; CN
DAI, Wending; CN
YUE, Qiang; CN
Agent: SHANGHAI XUAN YI PATENT OFFICE (GENERAL PARTNERSHIP); YANG, Xiaoshuang Room 610, Zhongxingcheng Building No. 7 Pubei Road, Xuhui District Shanghai 200233, CN
Priority Data:
201510665021.X13.10.2015CN
Title (EN) PRECISION CALIBRATION METHOD FOR ATTITUDE MEASUREMENT SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE DE PRÉCISION POUR SYSTÈME DE MESURE D'ATTITUDE
(ZH) 一种姿态测量系统的精度校准方法
Abstract: front page image
(EN) A precision calibration method for an attitude measurement system, comprising the following steps: calibrating, by means of an ellipsoid fitting model, zero offsets, scale factors, and non-orthogonal angles among axes of an accelerometer of an attitude measurement system (S1); compensating for original data of the accelerometer using a computed ellipsoid parameter (S2); calibrating an electronic compass by means of the ellipsoid fitting model according to the compensated accelerometer data (S3); compensating for original data of the electronic compass using the computed ellipsoid parameter (S4); and calculating an attitude according to the compensated accelerometer data and electronic compass data (S5). The calibration implemented by said steps of the method obtains a reliable result, achieves high precision, and consumes less time.
(FR) L'invention concerne un procédé d'étalonnage de précision pour un système de mesure d'attitude, comprenant les étapes suivantes : étalonner, au moyen d'un modèle d'adaptation ellipsoïde, des décalages du zéro, des facteurs d'échelle et des angles non orthogonaux entre les axes d'un accéléromètre d'un système de mesure d'attitude (S1) ; compenser des données d'origine de l'accéléromètre à l'aide d'un paramètre ellipsoïde calculé (S2) ; étalonner une boussole électronique au moyen du modèle d'adaptation ellipsoïde en fonction des données d'accéléromètre compensées (S3) ; compenser des données d'origine de la boussole électronique à l'aide du paramètre ellipsoïde calculé (S4) ; et calculer une attitude en fonction des données d'accéléromètre et des données de boussole électronique compensées (S5). L'étalonnage réalisé par le biais desdites étapes du procédé donne un résultat fiable, atteint une précision élevée, et consomme moins de temps.
(ZH) 一种姿态测量系统的精度校准方法,所述姿态测量系统的精度校准方法包括如下步骤:通过椭球拟合模型对姿态测量系统的加速度计的零偏、刻度系数与轴间不正交角进行校准(S1);利用计算出的椭球参数对加速度计原始数据进行补偿(S2);根据补偿后的加速度计数据通过椭球拟合模型对电子罗盘进行校准(S3);利用计算出的椭球参数对电子罗盘原始数据进行补偿(S4);根据补偿后的加速度计数据与电子罗盘数据对姿态进行解算(S5),上述方法步骤校准结果可靠、精度高、校准耗时少。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)