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1. (WO2017062735) ULTRAHIGH RESOLUTION DYNAMIC IC CHIP ACTIVITY DETECTION FOR HARDWARE SECURITY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2017/062735    International Application No.:    PCT/US2016/055937
Publication Date: 13.04.2017 International Filing Date: 07.10.2016
IPC:
A61B 5/00 (2006.01), A61B 5/103 (2006.01), G01N 21/31 (2006.01), G01N 21/49 (2006.01), G01R 1/06 (2006.01), G01R 31/302 (2006.01)
Applicants: PRESIDENT AND FELLOWS OF HARVARD COLLEGE [US/US]; 17 Quincy Street Cambridge, MA 02138 (US)
Inventors: SHAO, Linbo; (US).
LONCAR, Marko; (US)
Agent: NIEVES, Peter, A.; (US)
Priority Data:
62/239,045 08.10.2015 US
Title (EN) ULTRAHIGH RESOLUTION DYNAMIC IC CHIP ACTIVITY DETECTION FOR HARDWARE SECURITY
(FR) DÉTECTION D’ACTIVITÉ DE PUCE À CIRCUIT INTÉGRÉ DYNAMIQUE À TRÈS HAUTE RÉSOLUTION POUR SÉCURITÉ DE MATÉRIEL
Abstract: front page image
(EN)A system and method for detecting dynamic electromagnetic emission of an integrated circuit (IC) chip is provided. One embodiment of the method, includes exciting nitro variance (NV) centers of a diamond slide located in close proximity to the IC chip via use of light, resulting in an NV fluorescence; providing an optical readout of the NV fluorescence, wherein the optical readout provides quantum states of the NV centers, thereby providing a spectra of electromagnetic fields of the IC chip. A determination is then made of at least one of the group comprising clock frequencies of the IC chip, referred to herein as determined clock frequencies, and data bandwidth of the IC chip, referred to herein as determined data bandwidth of the IC chip, from the spectra of electromagnetic fields of the IC chip. A comparison is then performed, comparing at least one of the group comprising determined clock frequencies and determined data bandwidth.
(FR)La présente invention concerne un système et un procédé pour détecter une émission électromagnétique dynamique d’une puce à circuit intégré (IC). Un mode de réalisation du procédé, comprend l’excitation des centres azote-lacune (NV) d’une lame de diamant située à proximité étroite de la puce IC par utilisation de la lumière, conduisant à une fluorescence NV ; la fourniture d’une lecture optique de la fluorescence NV, la lecture optique fournissant des états quantiques des centres NV, de manière à fournir un spectre de champs électromagnétiques de la puce IC. Une détermination est ensuite faite d’au moins l’un du groupe comprenant des fréquences d’horloge de la puce IC, présentement appelées fréquences d’horloge déterminées, et la bande passante de données de la puce IC, présentement appelée bande passante de données déterminée de la puce IC, à partir des spectres de champs électromagnétiques de la puce IC. Une comparaison est ensuite effectuée, comparant au moins l’un du groupe comprenant les fréquences d’horloge déterminée et la bande passante de données déterminé.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)