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1. (WO2017061586) PARTICLES, OPTICAL SHEET, SCREEN, DISPLAY DEVICE, PARTICLE INSPECTION DEVICE, PARTICLE MANUFACTURING DEVICE, PARTICLE INSPECTION METHOD, PARTICLE MANUFACTURING METHOD, SCREEN INSPECTION METHOD, AND SCREEN MANUFACTURING METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2017/061586    International Application No.:    PCT/JP2016/079901
Publication Date: 13.04.2017 International Filing Date: 07.10.2016
IPC:
G03B 21/60 (2014.01), G02B 26/10 (2006.01), G02B 27/48 (2006.01), G03B 21/00 (2006.01), G03B 21/62 (2014.01)
Applicants: DAI NIPPON PRINTING CO., LTD. [JP/JP]; 1-1, Ichigaya-Kagacho 1-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1628001 (JP)
Inventors: KUBOTA, Shogo; (JP).
KURASHIGE, Makio; (JP).
NAKATSUGAWA, Kaori; (JP)
Agent: KOYAMA, Takashi; (JP).
TANAKA, Sadatsugu; (JP).
YONEZAWA, Akira; (JP)
Priority Data:
2015-200056 08.10.2015 JP
Title (EN) PARTICLES, OPTICAL SHEET, SCREEN, DISPLAY DEVICE, PARTICLE INSPECTION DEVICE, PARTICLE MANUFACTURING DEVICE, PARTICLE INSPECTION METHOD, PARTICLE MANUFACTURING METHOD, SCREEN INSPECTION METHOD, AND SCREEN MANUFACTURING METHOD
(FR) PARTICULES, FEUILLE OPTIQUE, ÉCRAN, DISPOSITIF D'AFFICHAGE, DISPOSITIF DE DÉTECTION DE PARTICULES AINSI QUE DISPOSITIF DE FABRICATION DE PARTICULES, ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE PARTICULES, PROCÉDÉ DE FABRICATION DE PARTICULES, PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'ÉCRAN AINSI QUE PROCÉDÉ DE FABRICATION D'ÉCRAN
(JA) 粒子、光学シート、スクリーン、表示装置、粒子検査装置、及び粒子製造装置、並びに、粒子検査方法、粒子製造方法、スクリーン検査方法、及びスクリーン製造方法
Abstract: front page image
(EN)[Problem] To provide particles, an optical sheet, a screen, a display device, a particle inspection device, a particle manufacturing device, a particle inspection method, a particle manufacturing method, a screen inspection method, and a screen manufacturing method that are capable of reducing speckle and effectively avoiding image quality degradation associated with color change. [Solution] The particles include a first moiety 61 and a second moiety 62 that have different dielectric constants. The first moiety 61 and the second moiety 62 have different reflectance spectra or different reflectances of non-visible light wavelengths, or else have different transmittance spectra or different transmittances of non-visible light wavelengths.
(FR)L'invention fournit des particules, une feuille optique, un écran, un dispositif d'affichage, un dispositif de détection de particules ainsi qu'un dispositif de fabrication de particules, et un procédé de détection de particules, un procédé de fabrication de particules, un procédé de détection d'écran ainsi qu'un procédé de fabrication d'écran qui permettent de réduire un chatoiement, et qui permettent d'éviter de manière efficace une dégradation de la qualité d'image associée à un changement de couleur. Les particules contiennent une première portion (61) et une seconde portion (62) de permittivité relative différente. La première portion (61) et la seconde portion (62) présentent soit une réflectance ou un spectre de réflectance de longueur d'onde d'une lumière invisible, soit une transmittance ou un spectre de transmittance de longueur d'onde d'une lumière invisible, qui diffère.
(JA)【課題】 スペックルを低減することが可能であって、且つ、色変化にともなった画質の劣化を効果的に回避することが可能な粒子、光学シート、スクリーン、表示装置、粒子検査装置、及び粒子製造装置、並びに、粒子検査方法、粒子製造方法、スクリーン検査方法、及びスクリーン製造方法を提供する。 【解決手段】 粒子は、比誘電率の異なる第1部分61と第2部分62を含み、第1部分61と第2部分62は、非可視光の波長の反射率又は反射率スペクトル、若しくは、非可視光の波長の透過率又は透過率スペクトルが異なる。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)