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1. (WO2017060946) INSPECTION SUBSTRATE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2017/060946 International Application No.: PCT/JP2015/078153
Publication Date: 13.04.2017 International Filing Date: 05.10.2015
IPC:
G01R 1/073 (2006.01) ,G01R 31/26 (2014.01) ,H05K 1/02 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
R
MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1
Details of instruments or arrangements of the types covered by groups G01R5/-G01R13/122
02
General constructional details
06
Measuring leads; Measuring probes
067
Measuring probes
073
Multiple probes
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
R
MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31
Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
26
Testing of individual semiconductor devices
H ELECTRICITY
05
ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
K
PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
1
Printed circuits
02
Details
Applicants: UNITECHNO INC.[JP/JP]; 2-13-9, Shibaura, Minato-ku, Tokyo 1080023, JP
Inventors: NANAMI, Fumiaki; JP
ADACHI, Tomoaki; JP
Agent: ARIGA,Gunichiro; JP
Priority Data:
Title (EN) INSPECTION SUBSTRATE
(FR) SUBSTRAT D'INSPECTION
(JA) 検査用基板
Abstract:
(EN) Provided is an inspection substrate in which the length of a conduction path from a device to be inspected to the inspection substrate can be made shorter. An inspection substrate 1 has a through hole 18 penetrating a substrate portion at the position of an inspection wiring section 16 corresponding to a terminal part to be inspected 4 of a device to be inspected 2. A conductive bushing 26 is provided at an upper portion inside the through hole 18 and is electrically connected to the inspection wiring section 16. A conductive plunger 20 has a large-diameter pedestal 22 and a small-diameter shaft 24 that are integrated with each other, the large-diameter pedestal 22 is accommodated inside the through hole 18, and the small-diameter shaft 24 is slidably accommodated inside a hole in the bushing 26 such that an electrical connection is maintained. A coil spring 40 accommodated inside the through hole 18 urges the large-diameter pedestal 22 of the plunger 20 to abut the bottom edge face of the bushing 26, whereby the small-diameter shaft 24 projects at the substrate top face. A closing member 42 restrains the coil spring 40 in a compressed form inside the through hole 18 to close the bottom of the through hole 18.
(FR) L'invention concerne un substrat d'inspection, dans lequel la longueur d'un chemin de conduction allant d'un dispositif à inspecter au substrat d'inspection peut être rendu plus court. Un substrat d'inspection (1) a un trou traversant (18) pénétrant dans une partie de substrat au niveau de la position d'une section de câblage d'inspection (16) correspondant à une partie de borne à inspecter (4) d'un dispositif à inspecter (2). Une douille conductrice (26) est située au niveau d'une partie supérieure à l'intérieur du trou traversant (18) et est connectée électriquement à la section de câblage d'inspection (16). Un piston conducteur (20) a un socle de grand diamètre (22) et un arbre de petit diamètre (24) qui sont intégrés l'un à l'autre, le socle de grand diamètre (22) est logé à l'intérieur du trou traversant (18), et l'arbre de petit diamètre (24) est logé de manière coulissante à l'intérieur d'un trou dans la douille (26) de telle sorte qu'une connexion électrique est maintenue. Un ressort hélicoïdal (40) logé à l'intérieur du trou traversant (18) pousse le socle de grand diamètre (22) du piston (20) pour venir en butée contre la face de bord de fond de la douille (26), l'arbre de petit diamètre (24) faisant saillie au niveau de la face supérieure de substrat. Un élément de fermeture (42) retient le ressort hélicoïdal (40) dans une forme comprimée à l'intérieur du trou traversant (18) pour fermer le fond du trou traversant (18).
(JA)  被検査デバイスから検査用基板までの導電路長を短くできる検査用基板を提供する。検査用基板1が、被検査デバイス2の被検査端子部4に対応する検査用配線部16の位置にて基板部を貫通する貫通孔18を有する。この貫通孔18内の上部には、導電性のブッシュ26が設けられ、検査用配線部16に電気的に接続される。導電性のプランジャー20が大径台座部22と小径軸部24とを一体に有し、大径台座部22が貫通孔18内に収容されかつ小径軸部24がブッシュ26の孔内に電気的に接続が保持されるように摺動可能に収容される。貫通孔18内に収容されたコイルばね40が、プランジャー20の大径台座部22をブッシュ26の下端面に当接するように付勢して小径軸部24を基板上面部に突き出させる。閉塞部材42が貫通孔18内にコイルばね40を圧縮状態に押し込めて貫通孔18の下部を閉じている。
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Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)