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1. (WO2017057735) FOREIGN MATERIAL INSPECTION DEVICE
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Pub. No.: WO/2017/057735 International Application No.: PCT/JP2016/079135
Publication Date: 06.04.2017 International Filing Date: 30.09.2016
IPC:
G01N 23/04 (2006.01) ,G01N 23/18 (2006.01) ,G01N 27/72 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23
Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation not covered by group G01N21/ or G01N22/159
02
by transmitting the radiation through the material
04
and forming a picture
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23
Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation not covered by group G01N21/ or G01N22/159
02
by transmitting the radiation through the material
06
and measuring the absorption
08
using electric detection means
18
Investigating the presence of flaws or inclusions
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
27
Investigating or analysing materials by the use of electric, electro-chemical, or magnetic means
72
by investigating magnetic variables
Applicants:
株式会社イシダ ISHIDA CO., LTD. [JP/JP]; 京都府京都市左京区聖護院山王町44番地 44 Sanno-cho, Shogoin, Sakyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6068392, JP
日新電子工業株式会社 NISSIN ELECTRONICS CO., LTD. [JP/JP]; 東京都江東区亀戸1-29-13 1-29-13, Kameido, Koto-ku, Tokyo 1360071, JP
Inventors:
田中 良 TANAKA Ryo; JP
井上 裕太 INOUE Yuta; JP
Agent:
長谷川 芳樹 HASEGAWA Yoshiki; JP
黒木 義樹 KUROKI Yoshiki; JP
柴山 健一 SHIBAYAMA Kenichi; JP
Priority Data:
2015-19591501.10.2015JP
Title (EN) FOREIGN MATERIAL INSPECTION DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION DE MATÉRIAU ÉTRANGER
(JA) 異物検査装置
Abstract:
(EN) This foreign material inspection device is provided with: a transfer unit that transfers a subject to be inspected; an X-ray inspection unit that detects, using X-ray transmissivity, a foreign material contained in the subject being transferred by means of the transfer unit; a metal detection unit, which is communicably connected to the X-ray inspection unit, and which can be operated independently from the X-ray inspection unit, said metal detection unit detecting, using interactions between a magnetic field and a metal, the foreign material contained in the subject being transferred by means of the transfer unit; a housing that houses inside at least a part of the transfer unit, the X-ray inspection unit, and the metal detection unit; a first display unit, which is provided to the housing, and which displays the operation screens of the X-ray inspection unit and the metal detection unit by being controlled by the X-ray inspection unit; and a second display unit, which is provided to the housing, and which displays the operation screen of the metal detection unit by being controlled by the metal detection unit.
(FR) L'invention concerne un dispositif d'inspection de matériau étranger comportant : une unité de transfert qui transfère un sujet à soumettre à l'inspection ; une unité d'inspection radiologique qui détecte, par transmissivité des rayons X, un matériau étranger présent dans l'organisme du sujet transféré par l'unité de transfert ; une unité de détection des métaux, qui est liée à l'unité d'inspection radiologique et qui communique avec elle, et qui peut être mise en marche indépendamment de l'unité d'inspection radiologique, ladite unité de détection des métaux détectant, au moyen des interactions entre un champ magnétique et un métal, un matériau étranger présent dans l'organisme du sujet transféré par l'unité de transfert ; un boîtier qui abrite, dans au moins une partie de l'unité de transfert, l'unité d'inspection radiologique et l'unité de détection des métaux ; une première unité d'affichage, qui est disposée sur le boîtier et qui affiche les écrans de fonctionnement de l'unité d'inspection radiologique et de l'unité de détection des métaux sous le contrôle de l'unité d'inspection radiologique ; et une seconde unité d'affichage, qui est disposée sur le boîtier, et qui affiche l'écran de fonctionnement de l'unité de détection des métaux sous le contrôle de l'unité de détection des métaux.
(JA) 異物検査装置は、被検査物を搬送する搬送部と、X線の透過性を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出するX線検査部と、X線検査部と通信可能に接続され、X線検査部とは独立して作動可能であり、磁界と金属との相互作用を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出する金属検出部と、搬送部の少なくとも一部、X線検査部、及び金属検出部を内部に収容する筐体と、筐体に設けられ、X線検査部に制御されることでX線検査部及び金属検出部の操作画面を表示する第1表示部と、筐体に設けられ、金属検出部に制御されることで金属検出部の操作画面を表示する第2表示部と、を備える。
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Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
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European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)