WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2017057014) OPTICAL MEASUREMENT DEVICE AND METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.: WO/2017/057014 International Application No.: PCT/JP2016/077223
Publication Date: 06.04.2017 International Filing Date: 15.09.2016
IPC:
G01N 21/17 (2006.01) ,A61B 5/00 (2006.01) ,A61B 5/05 (2006.01) ,A61B 5/1455 (2006.01) ,A61B 10/00 (2006.01) ,G01N 21/64 (2006.01)
Applicants: SONY CORPORATION[JP/JP]; 1-7-1, Konan, Minato-ku, Tokyo 1080075, JP
Inventors: TORIUMI Yoichi; JP
GOMI Shinichiro; JP
NAKAMURA Kenichiro; JP
Agent: NISHIKAWA Takashi; JP
INAMOTO Yoshio; JP
Priority Data:
2015-19083029.09.2015JP
Title (EN) OPTICAL MEASUREMENT DEVICE AND METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE OPTIQUE
(JA) 光学計測装置および方法
Abstract: front page image
(EN) The present invention pertains to an optical measurement device and method, whereby component values of an object can be more precisely measured. This optical measurement device: emits irradiation light including a prescribed irradiation wavelength band, said irradiation light being irradiated on to an object; receives the irradiation light on a side surface thereof and scatters same internally; and receives surface-reflected light and internally-reflected light by using a plurality of pixels and measures the received light volumes, said surface reflected light being irradiation light reflected by the surface of the object substantially without wavelength shift, said internally-reflected light being irradiated light that has shifted a prescribed excitation wavelength band from the irradiation wavelength band inside the object and has been reflected, and said irradiated light being irradiated on to the surface of the object via a light-guide plate that substantially uniformly irradiates from an irradiation surface having a wider area than a side surface, on to a prescribed range on the object surface. The present invention can be applied, for example, to optical measurement devices, electronic devices, body composition measurement instruments, imaging devices, and information processing devices, etc.
(FR) La présente invention se rapporte à un dispositif et un procédé de mesure optique, les valeurs des composantes d'un objet pouvant être mesurées avec plus de précision. Le dispositif de mesure optique de l'invention : émet une lumière d'irradiation comprenant une bande de longueur d'onde d'irradiation prescrite, ladite lumière d'irradiation étant envoyée sur un objet ; reçoit la lumière envoyée sur une surface latérale de l'objet et diffuse ladite lumière vers l'intérieur ; et reçoit la lumière réfléchie par la surface et la lumière réfléchie de manière interne à l'aide d'une pluralité de pixels, et mesure les volumes lumineux reçus, ladite lumière réfléchie par la surface étant la lumière d'irradiation réfléchie par la surface de l'objet sensiblement sans décalage de longueur d'onde, ladite lumière réfléchie de manière interne étant une lumière réfléchie qui est décalée d'une bande de longueur d'onde d'excitation prescrite à partir de la bande de longueur d'onde d'irradiation à l'intérieur de l'objet et qui a été réfléchie, et ladite lumière irradiée étant envoyée sur la surface de l'objet par l'intermédiaire d'une plaque de guidage optique qui irradie de manière sensiblement uniforme à partir d'une surface d'irradiation ayant une zone plus large qu'une surface latérale, sur une plage prescrite sur la surface de l'objet. La présente invention peut s'appliquer, par exemple, à des dispositifs de mesure optique, des dispositifs électroniques, des instruments de mesure de compositions organiques, des dispositifs d'imagerie et des dispositifs de traitement d'informations, etc.
(JA) 本技術は、物体の成分値をより正確に測定することができるようにする光学計測装置および方法に関する。 本技術の光学計測装置は、物体に照射する、所定の照射波長帯域を含む照射光を発光し、その照射光を側面で受光して内部で拡散し、側面よりも広面積な照射面から物体の表面の所定の範囲に略均一に照射する導光板を介して物体の表面に照射された照射光が物体の表面で略波長シフトせずに反射した表面反射光と、導光板を介して物体の表面に照射された照射光が物体の内部で照射波長帯域から所定の励起波長帯域にシフトして反射した内部反射光とを、複数の画素で受光して受光量を計測する。本技術は、例えば、光学計測装置、電子機器、体組成計測器、撮像装置、情報処理装置等に適用することができる。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)