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1. (WO2017056301) INSPECTION DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2017/056301 International Application No.: PCT/JP2015/077983
Publication Date: 06.04.2017 International Filing Date: 01.10.2015
IPC:
G01R 31/00 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
R
MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31
Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
Applicants: FUJI MACHINE MFG. CO., LTD.[JP/JP]; 19, Chausuyama, Yamamachi, Chiryu-shi Aichi 4728686, JP
Inventors: SAWADA, Toshiyuki; JP
Agent: KATAOKA, Tomoki; JP
Priority Data:
Title (EN) INSPECTION DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION
(JA) 検査装置
Abstract:
(EN) This inspection device reduces measurement error. The inspection device is provided with: a component mounting unit which includes a groove extending in a first direction and comprising a bottom part which extends in the first direction and a pair of inclined surfaces which extend in the first direction and separate from each other upwards from the bottom part; and a pair of probes which are provided so as to enable connection, from both ends of the groove in the first direction, to each of a pair of electrodes of an electronic component mounted on the component mounting unit. The inspection device inspects the electronic component which, when the pair of electrodes thereof are aligned in the first direction, has a smaller dimension on the bottom surface in a second direction than the dimension of the aforementioned bottom part of the component mounting unit in the second direction, the second direction being the direction orthogonal in the horizontal direction with respect to the first direction. When inspecting an electronic component which has a smaller dimension in the second direction than the dimension in the second direction of the bottom part of the component mounting unit, the electronic component is arranged in the component mounting unit in a state in which the bottom surface of the electronic component is in contact with the bottom part of the component mounting unit. For that reason, frictional force between the bottom surface of the electronic component and the bottom part of the component mounting unit prevents disturbance of the attitude of the mounted electronic component. Consequently, measurement error is reduced in the measurement of electric properties of the electronic component.
(FR) L'invention concerne un dispositif d'inspection qui réduit une erreur de mesure. Le dispositif d'inspection comprend : une unité de montage de composant qui comprend une rainure s'étendant dans une première direction et comprenant une partie inférieure qui s'étend dans la première direction et une paire de surfaces inclinées qui s'étendent dans la première direction et se séparent l'une de l'autre vers le haut depuis la partie inférieure; et une paire de sondes qui sont disposées de manière à permettre le raccordement, depuis les deux extrémités de la rainure dans la première direction, à chacune d'une paire d'électrodes d'un composant électronique monté sur l'unité de montage du composant. Le dispositif d'inspection inspecte le composant électronique qui, lorsque la paire d'électrodes de ces derniers sont alignées dans la première direction, a une dimension plus petite sur la surface inférieure dans une seconde direction que la dimension de la partie inférieure mentionnée ci-dessus de l'unité de montage du composant dans la seconde direction, la seconde direction étant la direction orthogonale dans la direction horizontale par rapport à la première direction. Lors de l'inspection d'un composant électronique qui a une dimension plus petite dans la seconde direction que la dimension dans la seconde direction de la partie inférieure de l'unité de montage du composant, le composant électronique est disposé dans l'unité de montage du composant dans un état dans lequel la surface inférieure du composant électronique est en contact avec la partie inférieure de l'unité de montage du composant. Pour cette raison, une force de frottement entre la surface inférieure du composant électronique et la partie inférieure de l'unité de montage du composant empêche la perturbation de l'attitude du composant électronique monté. Par conséquent, une erreur de mesure est réduite dans la mesure de propriétés électriques du composant électronique.
(JA) 検査装置において、測定ミスの低減を図る。 検査装置は、第一方向に延びる底部と、第一方向に延び底部から上方へ向かうにつれて互いに離間する一対の傾斜面とを有する第一方向に延びる溝を含む部品載置部と、溝の第一方向における両端から、部品載置部に載置された電子部品の一対の電極の各々に接続可能に設けられた一対の測定子とを備えたものであり、電子部品の一対の電極を前記第一方向に並べた場合の電子部品の底面の、前記第一方向に対して水平方向に垂直な方向である第二方向の寸法は、前記底部の前記第二方向の寸法よりも小さい電子部品を検査する。 第二方向の寸法が部品載置部の底部の第二方向の寸法よりも小さい電子部品を検査する際、電子部品は、底面が、部品載置部の底部に接触した状態で、部品載置部に載置される。そのため、電子部品の底面と部品載置部の底部との摩擦力により、載置された電子部品の姿勢の乱れが抑制される。したがって、電子部品の電気的特性の測定において、測定ミスが低減される。
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Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)