WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2017054591) DIRECT CURRENT PARAMETER TESTING DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.: WO/2017/054591 International Application No.: PCT/CN2016/096257
Publication Date: 06.04.2017 International Filing Date: 22.08.2016
IPC:
H03M 1/10 (2006.01)
Applicants: SANECHIPS TECHNOLOGY CO., LTD.[CN/CN]; ZTE Industrial Park, Liuxian Avenue, Xili Street, Nanshan District Shenzhen, Guangdong 518055, CN
Inventors: WANG, Dapeng; CN
Agent: CHINA PAT INTELLECTUAL PROPERTY OFFICE; 2nd Floor, Zhongguancun Intellectual Property Building, Block B No.21 Haidian South Road, Haidian Beijing 100080, CN
Priority Data:
201520759660.828.09.2015CN
Title (EN) DIRECT CURRENT PARAMETER TESTING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE TEST DE PARAMÈTRES DE COURANT CONTINU
(ZH) 一种直流参数测试装置
Abstract: front page image
(EN) A direct current parameter testing device. The device is provided with a direct current parameter testing unit (20) providing direct current parameter testing excitation data for a digital-to-analogue converter (10); and when a direct current parameter test needs to be carried out on the digital-to-analogue converter (10) integrated on a system on chip, the direct current parameter testing excitation data is provided for the digital-to-analogue converter (10) by the direct current parameter testing unit (20) added to the system on chip.
(FR) L'invention concerne un dispositif de test de paramètres de courant continu. Le présent dispositif comprend une unité de test de paramètres de courant continu (20) fournissant des données d'excitation de test de paramètres de courant continu à un convertisseur numérique-à-analogique (10) ; et lorsqu'il est nécessaire d'effectuer un test de paramètres de courant continu sur le convertisseur numérique-analogique (10) intégré à un système sur puce, les données d'excitation de test de paramètres de courant continu sont fournies au convertisseur numérique-analogique (10) par l'unité de test de paramètres de courant continu (20) ajouté au système sur puce.
(ZH) 一种直流参数测试装置,所述装置设置有为数模转换器(10)提供直流参数测试激励数据的直流参数测试单元(20);当需要对片上系统集成数模转换器(10)执行直流参数测试时,通过在片上系统芯片中增加的直流参数测试单元(20)来向数模转换器(10)提供直流参数测试激励数据。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)