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1. (WO2017054241) LED CHIP AGING TEST DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2017/054241    International Application No.:    PCT/CN2015/091410
Publication Date: 06.04.2017 International Filing Date: 02.10.2015
IPC:
G01R 31/28 (2006.01)
Applicants: WEI, Xiaomin [CN/CN]; (CN)
Inventors: WEI, Xiaomin; (CN)
Priority Data:
Title (EN) LED CHIP AGING TEST DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ESSAI DE VIEILLISSEMENT DE PUCE À DEL
(ZH) LED芯片老化测试装置
Abstract: front page image
(EN)An LED chip aging test device, comprising: an aging rack (1) provided with a plurality of LED chip detection work positions (11), and a power supply circuit (2) used for supplying power to the detection work positions (11). The LED chip aging test device further comprises: a closed type heat collection chamber (3) for accommodating the aging rack (1), and a vacuuming system (4) installed inside the heat collection chamber (3). Thus, by placing an LED chip into a vacuum, oxygen molecules in the air can be isolated to a relatively high degree, and no nitrogen would be wasted, thereby reducing experiment costs.
(FR)L'invention concerne un dispositif d'essai de vieillissement de puce à DEL, comprenant : une crémaillère de vieillissement (1) pourvue d'une pluralité de positions de travail de détection (11) de puce à DEL, et un circuit d'alimentation électrique (2) utilisé pour fournir de l'énergie aux positions de travail de détection (11). Le dispositif d'essai de vieillissement de puce à DEL comprend en outre : une chambre de collecte de chaleur de type fermé (3) pour accueillir la crémaillère de vieillissement (1), et un système de mise sous vide (4) installé à l'intérieur de la chambre de collecte de chaleur (3). Ainsi, en plaçant une puce à DEL dans un vide, les molécules d'oxygène dans l'air peuvent être isolées à un degré relativement élevé, et l'azote n'est pas gaspillé, ce qui permet de réduire les coûts expérimentaux.
(ZH)一种LED芯片老化测试装置,包括:设置有多个LED芯片检测工位(11)的老化架(1),以及用于对所述检测工位(11)供电的电源线路(2),所述LED芯片老化测试装置还包括:容置所述老化架(1)的封闭式集热腔(3),以及安装于所述集热腔(3)内部的抽真空系统(4)。这样,将LED芯片放入真空环境中,可对空气中氧分子进行较高程度隔离,并且无需浪费氮气而实验成本低。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)