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1. (WO2017041449) TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD USING TESTING APPARATUS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2017/041449 International Application No.: PCT/CN2016/074508
Publication Date: 16.03.2017 International Filing Date: 25.02.2016
IPC:
G01R 31/00 (2006.01) ,G06F 3/041 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
R
MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31
Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
G PHYSICS
06
COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
F
ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
3
Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
01
Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
03
Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
041
Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
Applicants:
京东方科技集团股份有限公司 BOE TECHNOLOGY GROUP CO., LTD. [CN/CN]; 中国北京市 朝阳区酒仙桥路10号 No.10 Jiuxianqiao Rd., Chaoyang District Beijing 100015, CN
京东方(河北)移动显示技术有限公司 BOE (HEBEI) MOBILE DISPLAY TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; 中国河北省 固安县京开路西侧固安工业区北区5号路 No.5 Rd., North District, Gu'An Industrial Zone, West Side JingKai Rd. Gu'An, Hebei 065500, CN
Inventors:
王贵云 WANG, Guiyun; CN
李学锋 LI, Xuefeng; CN
Agent:
北京银龙知识产权代理有限公司 DRAGON INTELLECTUAL PROPERTY LAW FIRM; 中国北京市 海淀区西直门北大街32号院枫蓝国际中心2号楼10层 10F, Bldg. 2, Maples International Center No. 32 Xizhimen North Street, Haidian District Beijing 100082, CN
Priority Data:
201510562926.407.09.2015CN
Title (EN) TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD USING TESTING APPARATUS
(FR) APPAREIL DE TEST ET PROCÉDÉ DE TEST UTILISANT L'APPAREIL DE TEST
(ZH) 测试装置及采用该测试装置的测试方法
Abstract:
(EN) Provided are a testing apparatus and a testing method using the testing apparatus. The testing apparatus comprises: a first fixing structure for fixing a substrate to be tested, wherein a first touch control line is arranged on the substrate to be tested; a second fixing structure for fixing a testing coordination panel, wherein a second touch control line is arranged on the testing coordination panel, and the first touch control line and the second touch control line constitute a touch control module; a third fixing structure for bearing an adapter flexible circuit board; a signal input structure for being electrically connected to a circuit board of the testing coordination panel or the first touch control line via the adapter flexible circuit board and inputting a trigger data signal; and a sensing signal acquisition structure for acquiring a touch control sensing signal on the first touch control line or the second touch control line.
(FR) L'invention concerne un appareil de test et un procédé de test utilisant l'appareil de test. L'appareil de test comprend : une première structure de fixation pour fixer un substrat à tester, une première ligne de commande tactile étant agencée sur le substrat à tester ; une deuxième structure de fixation pour fixer un panneau de coordination de test, une seconde ligne de commande tactile étant agencée sur le panneau de coordination de test, et la première ligne de commande tactile et la seconde ligne de commande tactile constituant un module de commande tactile ; une troisième structure de fixation pour porter une carte de circuits souple d'adaptateur ; une structure d'entrée de signal destinée à être connectée électriquement à une carte de circuits du panneau de coordination de test ou à la première ligne de commande tactile par l'intermédiaire de la carte de circuits souple d'adaptateur et à entrer un signal de données de déclenchement ; et une structure d'acquisition de signal de détection pour acquérir un signal de détection de commande tactile sur la première ligne de commande tactile ou la seconde ligne de commande tactile.
(ZH) 本公开提供一种测试装置及采用该测试装置的测试方法。该测试装置包括:用于固定待测基板的第一固定结构,待测基板上布置有第一触控线;用于固定测试配合面板的第二固定结构,测试配合面板上布置有第二触控线;第一触控线与第二触控线形成触控模组;用于承载一转接柔性线路板的第三固定结构;信号输入结构,用于通过转接柔性线路板与测试配合面板的线路板和第一触控线的其中一个电连接,并输入触发数据信号;感应信号采集结构,用于获取第一触控线或第二触控线上的触控感应信号。
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Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)