Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persist, please contact us atFeedback&Contact
1. (WO2017041243) THE CALCULATION METHOD OF WAVE REFLECTIVE INDEX ON INTERFACE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2017/041243 International Application No.: PCT/CN2015/089237
Publication Date: 16.03.2017 International Filing Date: 09.09.2015
IPC:
G01N 21/43 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible, or ultra-violet light
17
Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
41
Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
43
by measuring critical angle
Applicants:
DALIAN TIANDAO MARINE TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; Room 707, No.720 Huangpu Road, High-tech Zones Dalian, Liaoning 116018, CN
Inventors:
ZHANG, Yonggang; CN
ZHANG, Jianxue; CN
JIAO, Lin; CN
Agent:
DALIAN TECHNICAL PATENT AGENCY CO., LTD; Room 1511,15F, 61 Renmin Road Zhongshan District Dalian, Liaoning 116001, CN
Priority Data:
Title (EN) THE CALCULATION METHOD OF WAVE REFLECTIVE INDEX ON INTERFACE
(FR) PROCÉDÉ DE CALCUL DE L'INDICE DE RÉFLEXION D'ONDES SUR UNE INTERFACE
Abstract:
(EN) Calculation methods for wave reflectivity index (3) through normal on the interface and wave the absolutely reflective critical Angle (4), wave relatively reflective critical Angle (5), wave symmetrical refraction-reflection Angle (6). The wave reflectivity index (3) calculation method can be solved reflected wave energy calculation problem on interface. And absolutely reflective critical Angle (4) method to solve the interface of any kind of incident wave can all be reflected the critical Angle of computational problems for wave energy trapped, relative critical Angle (5) calculation method to solve the interface of any kind of incident wave began to resonance reflection the critical Angle of computational problems, symmetrical refraction-reflection Angle (6) calculation method can solve symmetry Angle calculation problem when the reflected wave energy equal to refracted wave energy. At the same time, and the methods are given for coefficient of the resonance wave and resonance wavelength with computational problems. The algorithms found that will be widely used in various fields such as light, electromagnetic waves, sound waves and waves etc.
(FR) L'invention concerne des procédés de calcul de l'indice de réflectivité (3) d'ondes par l'intermédiaire d'une perpendiculaire à l'interface et de l'angle critique (4) de réflexion absolue d'onde, de l'angle critique (5) de réflexion relative d'onde et de l'angle de réflexion (6) de réfraction symétrique. Le procédé de calcul de l'indice de réflectivité (3) d'ondes permet de résoudre le problème du calcul de l'énergie des ondes réfléchies sur l'interface. Le procédé utilisant l'angle critique (4) de réflexion absolue permet de résoudre les problèmes de calcul de l'angle critique de n'importe quel type d'onde incidente pouvant être réfléchie sur l'interface, liés à l'énergie des ondes piégées; le procédé de calcul de l'angle critique (5) relatif permet de résoudre les problèmes de calcul de de l'angle critique de n'importe quel type d'onde incidente sur l'interface à partir de la réflexion de résonance; le procédé de calcul de l'angle de réflexion (6) de réfraction symétrique permet de résoudre le problème de calcul de l'angle de symétrie lorsque l'énergie des ondes réfléchies est égale à l'énergie des ondes réfractées. Les procédés permettent également d'obtenir un coefficient de l'onde de résonance et la longueur d'onde de résonance à l'aide de problèmes de calcul. Les algorithmes découverts peuvent être largement utilisés dans divers domaines tels que les ondes lumineuses électromagnétiques, les ondes sonores, entre autres ondes.
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)