Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persist, please contact us atFeedback&Contact
1. (WO2017039801) SYSTEMS AND METHODS FOR REPAIR REDUNDANCY CONTROL FOR LARGE ERASURE CODED DATA STORAGE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2017/039801 International Application No.: PCT/US2016/039617
Publication Date: 09.03.2017 International Filing Date: 27.06.2016
Chapter 2 Demand Filed: 02.06.2017
IPC:
G06F 11/10 (2006.01)
G PHYSICS
06
COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
F
ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
11
Error detection; Error correction; Monitoring
07
Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
08
Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
10
Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out nines or elevens
Applicants:
QUALCOMM INCORPORATED [US/US]; Attn: International IP Administration 5775 Morehouse Drive San Diego, CA 92121-1714, US
Inventors:
RICHARDSON, Thomas Joseph; US
LUBY, Michael, George; US
Agent:
VIGUET, Ross, R.; US
Priority Data:
14/954,72830.11.2015US
62/211,30328.08.2015US
Title (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR REPAIR REDUNDANCY CONTROL FOR LARGE ERASURE CODED DATA STORAGE
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS DE COMMANDE DE REDONDANCE DE RÉPARATION DESTINÉS À UNE MÉMORISATION DE DONNÉES À CODE D'EFFACEMENT DE GRANDE TAILLE
Abstract:
(EN) Systems and methods which implement storage system data repair control techniques, such as may provide a feedback control structure for regulating source object redundancy and/or repair bandwidth in the storage system. Embodiments control a source object redundancy level to be used in a storage system by analyzing source objects represented in a repair queue to determine repair rate metrics for the source objects and determining a source object redundancy level based on the repair rate metrics. For example, embodiments may cause more redundant fragments for each source object to be generated and stored during repair where the repair rate metrics indicate an increase in storage node failure rate. Additionally, embodiments may determine a per storage object repair rate (e.g., a repair rate preference for each of a plurality of source objects) and select a particular repair rate (e.g., a maximum repair rate) for use by a repair policy.
(FR) L'invention concerne des systèmes et des procédés mettant en œuvre des techniques de commande de réparation de données de système de mémorisation, de manière à pouvoir fournir une structure de commande de retour pour la régulation d'une redondance d'objets sources et/ou la réparation d'une largeur de bande dans le système de mémorisation. Des modes de réalisation permettent la commande d'un niveau de redondance d'objets sources à utiliser dans un système de mémorisation par l'analyse d'objets sources représentés dans une file d'attente de réparation afin de déterminer des mesures de taux de réparation pour les objets sources et la détermination d'un niveau de redondance d'objets sources en fonction des mesures de taux de réparation. Par exemple, des modes de réalisation peuvent provoquer la génération et la mémorisation de fragments redondants supplémentaires pour chaque objet source pendant la réparation, les mesures de taux de réparation indiquant une augmentation d'un taux d'échec de nœud de mémorisation. En outre, des modes de réalisation peuvent déterminer un taux de réparation par objet de mémorisation (par exemple, une préférence de taux de réparation pour chaque objet source d'une pluralité d'objets de source) et sélectionner un taux de réparation particulier (par exemple, un taux de réparation maximal) à utiliser pour une politique de réparation.
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)