Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persist, please contact us atFeedback&Contact
1. (WO2017038373) ANALYSIS SYSTEM AND ANALYSIS METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2017/038373 International Application No.: PCT/JP2016/072946
Publication Date: 09.03.2017 International Filing Date: 04.08.2016
IPC:
G05B 23/02 (2006.01)
G PHYSICS
05
CONTROLLING; REGULATING
B
CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
23
Testing or monitoring of control systems or parts thereof
02
Electric testing or monitoring
Applicants:
株式会社テイエルブイ TLV CO., LTD. [JP/JP]; 兵庫県加古川市野口町長砂881番地 881, Nagasuna, Noguchicho, Kakogawa-shi, Hyogo 6758511, JP
Inventors:
宮前嘉夫 MIYAMAE Yoshio; JP
河原弘宜 KAWAHARA Hiroki; JP
Agent:
特許業務法人R&C R&C IP LAW FIRM; 大阪府大阪市北区中之島三丁目3番3号 3-3, Nakanoshima 3-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300005, JP
Priority Data:
2015-17203201.09.2015JP
Title (EN) ANALYSIS SYSTEM AND ANALYSIS METHOD
(FR) SYSTÈME D'ANALYSE ET PROCÉDÉ D'ANALYSE
(JA) 分析システム、及び、分析方法
Abstract:
(EN) When determining whether or not a predictive determination is made correctly on the basis of the operating state of a device under test during a predetermined time period after the device under test is determined as being inclined to fail, the predictive determination is determined as being incorrect at least when the operating state of the device under test has changed to normal after the device is determined as being inclined to fail, and the predictive determination is determined as being correct when the operating state of the device under test has changed to normal as a result of the execution of a predetermined countermeasure for the device under test after the device under test is determined as being inclined to fail.
(FR) Selon l'invention, lors de la détermination du fait qu'une détermination prédictive est effectuée correctement ou non en se basant sur l'état de fonctionnement d'un dispositif soumis à essai pendant une période prédéterminée après avoir déterminé que le dispositif soumis à essai a tendance à défaillir, la détermination prédictive est déterminée être incorrecte au moins lorsque l'état de fonctionnement du dispositif soumis à essai a changé en normal après avoir déterminé que le dispositif a tendance à défaillir, et la détermination prédictive est déterminée être correcte lorsque l'état de fonctionnement du dispositif soumis à essai a changé en normal suite à l'exécution d'une contre-mesure prédéterminée pour le dispositif soumis à essai après avoir déterminé que le dispositif soumis à essai a tendance à défaillir.
(JA) 不良化傾向と判定された後の所定期間の当該対象機器の作動状態に基づいて予測判定の正誤を判定し、少なくとも不良化傾向と判定された後に当該対象機器の作動状態が正常に変化したときは予測判定が誤っていたと判定する場合において、不良化傾向と判定された後に当該対象機器に対して所定の対策が実行されることによって当該対象機器の作動状態が正常に変化したときは、予測判定が正しかったと判定する。
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)