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1. (WO2017038235) AUTOMATIC ANALYZER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2017/038235 International Application No.: PCT/JP2016/069634
Publication Date: 09.03.2017 International Filing Date: 01.07.2016
Chapter 2 Demand Filed: 14.06.2017
IPC:
G01N 35/00 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35
Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/-G01N33/148; Handling materials therefor
Applicants:
株式会社日立ハイテクノロジーズ HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西新橋一丁目24番14号 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717, JP
ロッシュ ディアグノスティクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ROCHE DIAGNOSTICS GMBH [DE/DE]; マンハイム ザントホーファー・シュトラーセ116 Sandhofer Strasse 116, 68305 Mannheim, DE (AL, AT, BA, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
ロッシュ ディアグノスティクス オペレーションズ インコーポレーテッド ROCHE DIAGNOSTICS OPERATIONS, INC. [US/US]; インディアナ インディアナポリス ハウゲロード 9115 9115 Hague Road, Indianapolis, Indiana 46250, US (US)
エフ・ホフマン・ラ・ロッシュ・アー・ゲー F. HOFFMANN-LA ROCHE AG [CH/CH]; バーゼル グレンツアッハー・シュトラーセ124 Grenzacher Strasse 124, 4070 Basel, CH (AL, AT, BA, BE, BG, CH, CN, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, JP, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Inventors:
今井 健太 IMAI Kenta; JP
鈴木 寿治 SUZUKI Toshiharu; JP
松原 茂樹 MATSUBARA Shigeki; JP
杉目 和之 SUGIME Takayuki; JP
佐々木 俊輔 SASAKI Shunsuke; JP
ファーツ エルケ FAATZ Elke; DE
オッフェンロッホ‐ヘーンレ ベアトゥス OFENLOCH-HAEHNLE, Beatus; DE
Agent:
特許業務法人開知国際特許事務所 KAICHI IP; 東京都中央区日本橋室町四丁目3番16号 3-16, Nihonbashi-muromachi 4-chome, Chuo-ku, Tokyo 1030022, JP
Priority Data:
2015-17428504.09.2015JP
Title (EN) AUTOMATIC ANALYZER
(FR) ANALYSEUR AUTOMATIQUE
(JA) 自動分析装置
Abstract:
(EN) In conventional automatic analyzers, there have been instances where, when a plurality of associated items are analyzed as a set item, there is high variation in the analysis data obtained using the set item, leading to a need for improvement of analysis precision. The present invention comprises performing, in mutual association, a set of preparation steps to carry out until it is time to analyze an unknown sample, the set of preparation steps including a pre-preparation step in which stirring, etc., is performed when an analysis reagent kit is mounted on the analyzer, and a step for correcting a standard curve in which correction samples that correspond to analysis items are used. This makes it possible to perform analysis after the preparation states of a plurality of analysis reagent kits are collected as needed, enabling high-precision analysis of a set item.
(FR) Dans des analyseurs automatiques classiques, il y a eu des cas où, lorsqu'une pluralité d'éléments associés sont analysés sous la forme d'un élément défini, il y existe une grande variation dans l'analyse des données obtenues à l'aide de l'élément défini, conduisant à un besoin pour améliorer la précision d'analyse. La présente invention consiste à effectuer, en association réciproque, un ensemble d'étapes de préparation à effectuer jusqu'à ce qu'il soit temps d'analyser un échantillon inconnu, l'ensemble d'étapes de préparation comprenant une étape de préparation préalable dans laquelle une agitation, etc, est effectuée lorsqu'un kit de réactifs d'analyse est monté sur l'analyseur, et une étape pour corriger une courbe standard dans laquelle des échantillons de correction qui correspondent à des éléments d'analyse sont utilisés. Il est ainsi possible d'effectuer une analyse une fois que les étapes de préparation d'une pluralité kit de réactifs d'analyse sont collectées selon les besoins, permettant une analyse de haute précision d'un élément défini.
(JA) 従来の自動分析装置において複数の関連項目をセット項目として分析する場合、セット項目で得られる分析データのばらつきが大きく、分析精度の改善が必要になる場合があった。本発明では、分析試薬キットを分析装置に搭載する際に実施する撹拌などの前準備工程や、各分析項目に対応する校正試料を用いた検量線の校正工程といった、未知試料の分析を行う時点までに実施する一連の準備工程を、相互に関連付けて管理する。これにより、複数の分析試薬キットの準備状態を必要に応じて揃えた上で分析を実施することができ、高精度なセット項目の分析が実施可能となる。
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Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)